[發明專利]一種計算合成試驗衰減型恢復電壓的方法

無效

• 申請號: 201310088196.X
• 申請日: 2013-03-19
• 公開（公告）號: CN103197123A
• 公開（公告）日: 2013-07-10
• 發明（設計）人: 閻對豐;王安;姚斯立;牛安;王樂
• 申請（專利權）人: 中國西電電氣股份有限公司;西安高壓電器研究院有限責任公司
• 主分類號: G01R19/02
• 分類號: G01R19/02
• 代理公司: 西安通大專利代理有限責任公司 61200
• 代理人: 蔡和平

【技術領域】

本發明涉及高壓斷路器合成試驗技術領域，特別涉及一種計算合成試驗衰減型恢復電壓的方法。

【背景技術】

在高壓斷路器合成試驗中，在引入電流的過零點時刻，被試斷路器開斷電流，電壓回路電容器經電抗向電壓回路的瞬態恢復電壓調節支路振蕩充電，形成試驗所需的瞬態恢復電壓TRV，瞬態恢復電壓TRV過后，恢復電壓按照指數形式衰減，其波形如圖1所示。

高壓斷路器合成試驗標準中明確規定要求測量電流過零時衰減型恢復電壓有效值Ug這一參數，計算該參數傳統的方法是依據衰減型恢復電壓波形中連續的兩個波峰A、B兩點作一條直線LL′，然后根據坐標軸的刻度計算電流過零點時刻該直線LL′對應的瞬時值Uo，將該值除以即為衰減型恢復電壓有效值Ug。通過對圖1的分析可以看出，傳統的方法是將衰減型恢復電壓的指數衰減形式近似為線性衰減，計算所得的結果存在較大的誤差,因此該方法不僅效率低，而且嚴重影響了合成試驗數據分析的準確度,不能準確測量試驗參數衰減型恢復電壓，影響試驗回路有效性和被試斷路器開斷性能的評判。

【發明內容】

本發明的目的是提供一種計算合成試驗衰減型恢復電壓的方法，提高了合成試驗數據分析的準確度。

為了實現上述目的，本發明采用如下技術方案：

一種計算合成試驗衰減型恢復電壓的方法，包括：

1）、獲取高壓斷路器合成試驗中衰減型恢復電壓波形；

2）、衰減型恢復電壓波形中正峰值的個數為n；

當2≤n≤4時，通過拉格朗日型插值多項式計算出衰減電壓的包絡曲線EE′，包絡曲線EE′的表達式為：

En-1(t)=Σi=1nΠj=1j≠in(t-tjti-tj)Ui---(1)]]>

其中，t₁＜t₂＜……＜t_n；i、j=1,2,3,…,n，2≤n≤4；t_i為衰減型恢復電壓波形中第i個正峰所對應的時間，t_j為衰減型恢復電壓波形中第j個正峰所對應的時間，U_i為衰減型恢復電壓波形中第i個正峰所對應的電壓值；

當n≥5時，采用三次樣條插值函數計算包絡線EE′，包絡線EE′的表達式為：