[發(fā)明專利]一種可調(diào)角度塊輔助測(cè)量裝置及測(cè)量方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310087159.7
• 申請(qǐng)日: 2013-03-18
• 公開（公告）號(hào): CN103162595A
• 公開（公告）日: 2013-06-19
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 楊冰;孫建光;朱波;彭濤;高倩
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 山東東星表業(yè)有限公司
• 主分類號(hào): G01B5/14
• 分類號(hào): G01B5/14
• 代理公司: 濟(jì)南圣達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 37221
• 代理人: 鄧建國(guó)

1.一種可調(diào)角度塊輔助測(cè)量裝置，其特征是，包括基座、可調(diào)塊、銷軸、滑槽和刻度盤，所述基座包括依次固定連接的第一底塊、第一中塊和上塊；所述可調(diào)塊包括固定連接的第二底塊和第二中塊，所述第二中塊與上塊通過銷軸鉸接；所述第一中塊的側(cè)面固定有刻度盤，所述刻度盤上刻有角度，所述第二中塊的側(cè)面上刻有對(duì)齊線，對(duì)齊線能夠?qū)?zhǔn)刻度盤上的刻度；所述第二中塊與滑槽的一端固定，滑槽能夠通過調(diào)節(jié)螺釘固定在第一中塊的側(cè)面。

2.如權(quán)利要求1所述的可調(diào)角度塊輔助測(cè)量裝置，其特征是，所述刻度盤上的角度為0-90°。

3.如權(quán)利要求1所述的可調(diào)角度塊輔助測(cè)量裝置，其特征是，所述可調(diào)角度塊輔助測(cè)量裝置還包括墊塊，墊塊放置在第二底塊和第二中塊的交界處，并靠在第二中塊上，表殼通過墊塊放置在可調(diào)塊上。

4.如權(quán)利要求3所述的可調(diào)角度塊輔助測(cè)量裝置，其特征是，可調(diào)角度塊輔助測(cè)量裝置還包括第一磁鐵，所述墊塊為第二磁鐵，表殼固定在第一磁鐵和第二磁鐵之間。

5.如權(quán)利要求4所述的可調(diào)角度塊輔助測(cè)量裝置，其特征是，所述第二磁鐵的重量為表殼重量的7-20倍。

6.如權(quán)利要求1所述的可調(diào)角度塊輔助測(cè)量裝置的測(cè)量方法，其特征是，工作過程為：

步驟（1），根據(jù)被測(cè)表殼足頭與表殼的角度，調(diào)整可調(diào)塊的位置，調(diào)節(jié)對(duì)齊線對(duì)齊的刻度盤上的刻度，使足面與水平方向平行，旋緊調(diào)節(jié)螺釘固定可調(diào)塊；

步驟（2），選擇合適圓棒穿入被測(cè)表殼的耳孔，并把被測(cè)表殼放于可調(diào)塊上；

步驟（3），把量表表針放于圓棒頂端，并旋轉(zhuǎn)量表表圈，使其歸零；

步驟（4），將量表放于被測(cè)表殼的足面上，讀出量表數(shù)值，減去耳孔半徑，即是要測(cè)量值。

7.如權(quán)利要求6所述的可調(diào)角度塊輔助測(cè)量裝置的測(cè)量方法，其特征是，所述步驟（1）之前，還包括：將墊塊放置在可調(diào)塊上。

8.如權(quán)利要求7所述的可調(diào)角度塊輔助測(cè)量裝置的測(cè)量方法，其特征是，可調(diào)角度塊輔助測(cè)量裝置還包括第一磁鐵，所述墊塊為第二磁鐵，所述步驟（2）中，在把被測(cè)表殼放于可調(diào)塊上后，還包括將第一磁鐵與第二磁鐵吸合的步驟。