[發明專利]短路檢測方法及裝置

有效

• 申請號: 201310084324.3
• 申請日: 2013-03-15
• 公開（公告）號: CN103197192A
• 公開（公告）日: 2013-07-10
• 發明（設計）人: 蔡金龍
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 胡海國

技術領域

本發明涉及液晶顯示技術領域，特別涉及一種陣列基板線路的短路檢測方法及裝置。

背景技術

隨著電子技術的發展，平板顯示器件得到了飛速的發展，如液晶顯示器件、等離子體顯示器件和OLED（OrganicLight-EmittingDiode，有機發光二極管）顯示器件。在平板顯示器件當中，液晶顯示器件由于其重量低、體積小、能耗低等優點，從而得到了廣泛的應用。

現有技術中，液晶顯示器件的陣列基板上設有金屬線，該金屬線包括數據線和柵極線，在陣列基板的制程中包括對金屬線的斷路和短路測試。其中，對金屬線的短路測試通常采用的方法是，將信號發射傳感器設置于一條金屬線的一端上，信號接收傳感器設置于該金屬線的另一端，通過判定信號接收傳感器是否接收到信號發射傳感器發射的檢測信號作為依據判定當前檢測的金屬線是否存在斷路缺陷，若信號接收傳感器未收到信號，則表示該金屬線與其相鄰的金屬線之間存在斷路。而金屬線的短路缺陷的檢測是通過自動光學掃描儀對陣列基板的金屬線進行光學檢測，確定金屬線的短路位置。由于自動光學掃描儀為采用光學原理進行掃描，因此其在檢測時會誤判金屬線的短路位置，從而影響了陣列基板的生產效率。

發明內容

本發明的主要目的在于提供一種短路檢測方法，旨在降低陣列基板線路的短路檢測難度。

為了實現發明目的，本發明提供一種短路檢測方法，該短路檢測方法包括以下步驟：

通過曝光轉印法對一陣列基板線路進行轉印，形成轉印后的線路；

檢測轉印后的線路中的斷路位置；

根據所述斷路位置分析陣列基板線路的短路位置。

優選地，所述通過曝光轉印法對一陣列基板線路進行轉印的步驟具體包括：

通過曝光轉印法將陣列基板線路轉印至涂有光電導層的平板上。

優選地，所述平板上被光照射的光電導層部分形成導電線。

優選地，所述根據斷路位置分析陣列基板線路的短路位置步驟具體為，分析轉印后形成的斷路線路所對應的陣列基板線路中兩相鄰線路。

優選地，所述檢測轉印后的線路中的斷路位置的步驟具體包括：

控制間隔設置于轉印后的同一線路上、且與該線路電連接的信號發射傳感器和信號接收傳感器垂直于所述線路移動；

判斷在移動的過程中信號接收傳感器是否存在未接收到信號發射傳感器發射的檢測信號的現象；

若是，則判定當前檢測的轉印后線路中存在斷路；

若否，則判定當前檢測的轉印后線路中未存在斷路。

本發明還提供一種短路檢測裝置，該短路檢測裝置包括：

轉印模塊，用于通過曝光轉印法對一陣列基板線路進行轉印，形成轉印后的線路；

檢測模塊，用于檢測轉印后的線路中的斷路位置；

分析模塊，用于根據所述斷路位置分析陣列基板線路的短路位置。

優選地，所述轉印模塊用于通過曝光轉印法將陣列基板線路轉印至涂有光電導層的平板上。

優選地，所述平板上具有被光照射的光電導層部分形成的導電線。

優選地，所述分析模塊用于分析轉印后形成的斷路線路所對應的陣列基板線路中兩相鄰線路。

優選地，所述分析模塊包括：

信號發射傳感器，用于輸出檢測信號至轉印后的線路上；

信號接收傳感器，用于接收信號發射傳感器所發射的檢測信號；

控制單元，用于控制間隔設置于轉印后的同一線路上、且與該線路電連接的所述信號發射傳感器和信號接收傳感器垂直于所述線路移動；

判斷單元，判斷在移動的過程中信號接收傳感器是否存在未接收到信號發射傳感器發射的檢測信號的現象；若是，則判定當前檢測的轉印后線路中存在斷路；若否，則判定當前檢測的轉印后線路中未存在斷路。

本發明通過曝光轉印法對陣列基板線路進行轉印，然后檢測轉印后的線路中的斷路位置，最后根據斷路位置分析基板對應的短路位置。從而實現了將陣列基板線路中短路檢測轉化為斷路檢測，因此降低了陣列基板線路的短路檢測難度，提高了生產效率。

附圖說明

圖1為本發明短路檢測方法一實施例的流程示意圖；

圖2為陣列基板線路的結構示意圖；

圖3為曝光轉印后平板上的線路結構示意圖；

圖4為本發明短路檢測方法另一實施例的流程示意圖；

圖5為本發明短路檢測裝置一實施例的結構示意圖；

圖6為圖5中檢測模塊的結構示意圖。

本發明目的的實現、功能特點及優點將結合實施例，參照附圖做進一步說明。