[發明專利]一種頻率器件老化率測試裝置及測試方法

無效

• 申請號: 201310084060.1
• 申請日: 2013-03-15
• 公開（公告）號: CN103217600A
• 公開（公告）日: 2013-07-24
• 發明（設計）人: 李丕寧;方忠有;朱輝;李浩;孫仲秋
• 申請（專利權）人: 深圳市三奇科技有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 深圳市精英專利事務所 44242
• 代理人: 李新林

1.一種頻率器件老化率測試裝置，其特征在于，所述測試裝置包括有一計算機（10）、一頻率計（20）、一銣原子頻率源（30）及多層測試架，每層測試架上設有一器件測試板（40）及一測試控制板（50），所述器件測試板（40）包括有多個器件座（400），所述測試控制板（50）各自具有唯一的地址碼，其中，

所述銣原子頻率源（30）發送標準頻率的振蕩信號至頻率計（20）的標準頻率信號端口，頻率計（20）以該振蕩信號的頻率作為參考頻率;

每個測試控制板（50）包括有一4514譯碼器（500）及多個選通開關（501），所述計算機（10）發送選位指令至4514譯碼器（500）的選位端，4514譯碼器（500）的多個輸出端分別連接于多個選通開關（501）的控制端，多個器件座（400）的輸出端分別連接于多個選通開關（501）的輸入端，多個選通開關（501）的輸出端相互連接后再連接至頻率計（20）的輸入端，頻率計（20）將測試結果以電信號的形式發送至計算機（10）。

2.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括有一直流電源（60），所述直流電源（60）輸出直流電壓為器件座（400）供電，該直流電壓是0V～30V連續可調電壓，所述直流電源（60）還輸出5V直流電壓為測試控制板（50）供電。

3.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述測試架的層數是6層。

4.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，每個器件測試板（40）上設有16個器件座（400），每個測試控制板（50）包括有16個選通開關（501）。

5.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述測試裝置還包括有一擴展板，多個測試控制板（50）分別通過IDC40而連接至擴展板，之后再通過DB25接口而轉接至計算機（10）的并口端。

6.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，所述頻率計（20）通過GPIB接口而連接至計算機（10）。

7.一種頻率器件老化率測試方法，其特征在于，所述測試方法包括如下步驟：

步驟S101，在計算機（10）上設置參數，所述參數包括頻率器件在測試前的上電工作時長、取樣天數和每日取樣次數，計算機（10）根據取樣天數和每日取樣次數得出取樣時刻；

步驟S102，頻率器件按預設時長上電工作，且達到穩定工作狀態；

步驟S103，計算機（10）將選位指令發送至測試控制板（50），以令多個器件座（400）上多個頻率器件之一的頻率信號輸出至頻率計（20）；

步驟S104，頻率計（20）將測試結果反饋回計算機（10），并由計算機（10）保存至數據庫；

步驟S105，計算機（10）輸出下一頻率器件所對應的選位指令，重復步驟S103至步驟S104，直至器件測試板（40）內的多個頻率器件全部測試完成；

步驟S106，計算機（10）開始計時，直至下一取樣時刻；

步驟S107，重復步驟S103至步驟S106，直至多個頻率器件在全部取樣時刻的測試工作完成；

步驟S108，計算機（10）利用最小二乘法計算出每個頻率器件的老化率K，計算公式為：

K=nΣi=1N(fi-f‾)(ti-t‾)f0Σi=1N(ti-t‾)2;]]>

f‾=1NΣi=1Nfi;]]>

t‾=1NΣi=1Nti;]]>

上式中，

n為每日取樣次數；

N為取樣個數；

fi為ti時刻測試的頻率值；

ti為取樣時刻；

計算之后，將每個頻率器件的頻率數據和老化率K保存至數據庫。