[發明專利]一種倒裝LED芯片及其制造方法無效
| 申請號: | 201310082467.0 | 申請日: | 2013-03-14 |
| 公開(公告)號: | CN103208570A | 公開(公告)日: | 2013-07-17 |
| 發明(設計)人: | 武樂可 | 申請(專利權)人: | 映瑞光電科技(上海)有限公司 |
| 主分類號: | H01L33/22 | 分類號: | H01L33/22 |
| 代理公司: | 上海思微知識產權代理事務所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 鄭瑋 |
| 地址: | 201306 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 倒裝 led 芯片 及其 制造 方法 | ||
1.一種倒裝LED芯片的制造方法,包括:
提供襯底;
在所述襯底的正面形成倒裝LED結構;
刻蝕所述襯底的背面以形成圖形化襯底;
對所述圖形化襯底進行粗化工藝,以使所述圖形化襯底的背面為粗糙表面。
2.如權利要求1所述的倒裝LED芯片的制造方法,其特征在于,對所述圖形化襯底進行粗化工藝的步驟包括:
在所述圖形化襯底的背面形成金屬層;
對所述金屬層進行退火工藝,形成圖形化的金屬層;
以所述圖形化的金屬層為掩膜,對所述圖形化襯底進行刻蝕工藝,以使所述圖形化襯底的背面為粗糙表面;
去除所述圖形化的金屬層。
3.如權利要求2所述的倒裝LED芯片的制造方法,其特征在于,所述金屬層的材質為Ag、Ti或Ni。
4.如權利要求2所述的倒裝LED芯片的制造方法,其特征在于,所述金屬層的厚度為100nm-10000nm。
5.如權利要求2所述的倒裝LED芯片的制造方法,其特征在于,對所述金屬層進行退火工藝是在N2、O2或空氣氛圍中進行的,退火工藝的溫度為400℃-700℃。
6.如權利要求2所述的倒裝LED芯片的制造方法,其特征在于,對所述圖形化襯底進行的刻蝕工藝為ICP刻蝕工藝。
7.如權利要求1所述的倒裝LED芯片的制造方法,其特征在于,在所述襯底的正面形成倒裝LED結構的步驟包括:
在所述襯底上依次形成N型半導體層、多量子阱有源層和P型半導體層;
刻蝕所述N型半導體層、多量子阱有源層和P型半導體層,以形成暴露出所述N型半導體層的開口;
在所述開口中形成N型電極層,在所述P型半導體層上形成P型反射電極層;
在所述N型電極層和P型反射電極層部分表面形成絕緣層。
8.如權利要求1所述的倒裝LED芯片的制造方法,其特征在于,在所述襯底的正面形成倒裝LED結構之后,刻蝕所述襯底的背面以形成圖形化襯底之前,還包括對所述襯底進行減薄的步驟。
9.一種倒裝LED芯片,其特征在于,包括圖形化襯底以及形成于所述圖形化襯底正面的倒裝LED結構,所述圖形化襯底的背面為粗糙表面。
10.如權利要求9所述的倒裝LED芯片,其特征在于,所述倒裝LED結構包括:
依次形成于所述圖形化襯底正面的N型半導體層、多量子阱有源層和P型半導體層;
形成于多量子阱有源層和P型半導體層中的暴露出所述N型半導體層的開口;
形成于所述開口中的N型電極層,形成于所述P型半導體層上的P型反射電極層;以及、
形成于所述N型電極層和P型反射電極層部分表面的絕緣層。
11.如權利要求9所述的倒裝LED芯片,其特征在于,所述圖形化襯底的圖形均勻排布在所述圖形化襯底的背面。
12.如權利要求9所述的倒裝LED芯片,其特征在于,所述圖形化襯底的材質為藍寶石。
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