[發(fā)明專利]一種顯示裝置、陣列基板及其制作方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310082081.X | 申請(qǐng)日: | 2013-03-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103151359A | 公開(公告)日: | 2013-06-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 崔承鎮(zhèn);劉圣烈;宋泳錫 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 京東方科技集團(tuán)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L27/12 | 分類號(hào): | H01L27/12;H01L21/77;G02F1/1368;G02F1/1343;G03F7/00 |
| 代理公司: | 北京路浩知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11002 | 代理人: | 王瑩 |
| 地址: | 100015 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 顯示裝置 陣列 及其 制作方法 | ||
1.一種陣列基板,其特征在于,包括:
基板,所述基板上依次設(shè)有薄膜晶體管、鈍化層和透明電極層,所述樹鈍化層上形成有凹槽,所述透明電極層設(shè)置于凹槽內(nèi)。
2.如權(quán)利要求1所述的陣列基板,其特征在于,所述鈍化層由感光樹脂材料制成。
3.如權(quán)利要求1所述的陣列基板,其特征在于,所述凹槽的高度為0.5-3um。
4.如權(quán)利要求1所述的陣列基板,其特征在于,所述透明電極層為像素電極,所述像素電極位于凹槽內(nèi)。
5.如權(quán)利要求1所述的陣列基板,其特征在于,所述凹槽為梳狀,所述透明電極層為像素電極,所述像素電極位于梳狀凹槽內(nèi),所述陣列基板還包括位于鈍化層下方的公共電極;
或者,所述凹槽為梳狀,所述透明電極層為公共電極,所述公共電極位于梳狀凹槽內(nèi),所述陣列基板還包括位于鈍化層下方的像素電極。
6.一種顯示裝置,其特征在于,包括權(quán)利要求1-5任一項(xiàng)所述的陣列基板。
7.一種陣列基板的制作方法,其特征在于,包括如下步驟:
在基板上形成包括薄膜晶體管和鈍化層的圖形,所述鈍化層上形成凹槽;
在凹槽內(nèi)形成透明電極的圖形。
8.如權(quán)利要求7所述的陣列基板的制作方法,其特征在于,在基板上形成薄膜晶體管,具體包括:
在基板上通過構(gòu)圖工藝形成柵極和柵線的圖形;
在完成上述步驟的基板上形成柵絕緣層;
在完成上述步驟的基板上通過構(gòu)圖工藝形成有源層和源漏電極層的圖形。
9.如權(quán)利要求7所述的陣列基板的制作方法,其特征在于,所述形成具有凹槽的鈍化層的圖形包括:
在形成有所述薄膜晶體管的基板上形成鈍化層;
在完成上述步驟的基板上涂覆光刻膠,通過雙色調(diào)掩模板對(duì)光刻膠進(jìn)行曝光,對(duì)應(yīng)透明電極區(qū)域的光刻膠進(jìn)行部分曝光,對(duì)應(yīng)暴露出漏極的過孔區(qū)域的光刻膠進(jìn)行完全曝光,其他區(qū)域的光刻膠不進(jìn)行曝光;
通過顯影處理后,對(duì)應(yīng)所述完全曝光區(qū)域的鈍化層暴露出來,利用刻蝕工藝形成所述漏極的過孔;
利用灰化工藝,將所述對(duì)應(yīng)透明電極區(qū)域的光刻膠去除,以暴露出鈍化層;
利用刻蝕工藝將暴漏出的鈍化層進(jìn)行部分去除,在鈍化層上形成所述凹槽。
10.如權(quán)利要求7所述的陣列基板的制作方法,其特征在于,所述形成具有凹槽的鈍化層圖形包括:
在形成有所述薄膜晶體管的基板上形成感光樹脂層,通過雙色調(diào)掩模板掩模板對(duì)感光樹脂層進(jìn)行曝光,使得對(duì)應(yīng)透明電極區(qū)域的所述感光樹脂層進(jìn)行部分曝光,在對(duì)應(yīng)暴露出漏極的過孔區(qū)域的所述感光樹脂層進(jìn)行完全曝光,其他區(qū)域的所述感光樹脂層不進(jìn)行曝光,通過顯影工藝后,所述感光樹脂層對(duì)應(yīng)透明電極的區(qū)域形成凹槽的圖形。
11.如權(quán)利要求7所述的陣列基板的制作方法,其特征在于,所述在凹槽內(nèi)形成透明電極的圖形,具體包括:
在形成凹槽的基板上形成透明導(dǎo)電層;
在完成上述步驟的基板上涂覆光刻膠;
依據(jù)鈍化層上具有的凹槽,形成在凹槽部分的光刻膠和凹槽以外的光刻膠的厚度差,對(duì)光刻膠進(jìn)行灰化處理,保留凹槽區(qū)域的光刻膠,去除凹槽以外其他區(qū)域的光刻膠以暴露出透明導(dǎo)電層;
采用刻蝕工藝將暴露出的透明導(dǎo)電層去除,剝離所述凹槽部分的的光刻膠,形成透明電極的圖形。
12.如權(quán)利要求7所述的陣列基板的制作方法,其特征在于,所述透明電極為像素電極。
13.如權(quán)利要求7所述的陣列基板的制作方法,其特征在于,所述形成的凹槽為梳狀,所述透明電極為像素電極,在形成鈍化層之前,還包括形成公共電極的圖形。
14.如權(quán)利要求7所述的陣列基板的制作方法,其特征在于,所述形成的凹槽為梳狀,所述透明電極為公共電極,在形成鈍化層之前,還包括形成像素電極的圖形。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于京東方科技集團(tuán)股份有限公司,未經(jīng)京東方科技集團(tuán)股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310082081.X/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的





