[發明專利]剔卡檢測裝置

有效

• 申請號: 201310081936.7
• 申請日: 2013-03-11
• 公開（公告）號: CN103212537A
• 公開（公告）日: 2013-07-24
• 發明（設計）人: 蘭榮
• 申請（專利權）人: 蘭榮
• 主分類號: B07C5/00
• 分類號: B07C5/00;B07C5/36
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.新型剔卡檢測裝置，其特征在于：

包括用于輸送智能卡的輸送機構、用于檢測智能卡好壞的檢測機構以及協調輸送機構和檢測機構工作的控制模塊，還包括受控制模塊控制的剔卡機構，該剔卡機構包括設于輸送機構一側的氣壓通道和位置檢測裝置，設有電動開關的氣壓通道與高壓氣源連接，在氣壓通道一側的輸送架上設有一與智能卡長度相當的脫離開口，當檢測機構檢測到智能卡為壞卡后，壞卡移動至位置檢測裝置時，氣壓通道處于打開狀態。

2.根據權利要求1所述的新型剔卡檢測裝置，其特征在于：

所述氣壓通道包括兩個出口，兩出口所在的直線與智能卡移動的方向平行。

3.根據權利要求1或2所述的新型剔卡檢測裝置，其特征在于：

所述輸送機構包括由電機驅動的傳輸帶，在該傳輸帶兩側分別設有兩個限位架，所述傳輸帶的高出限位架底部稍許。

4.根據權利要求3所述的新型剔卡檢測裝置，其特征在于：

所述限位架設有的外側設有與底部連接的檔邊，形成臺階結構。

5.根據權利要求3所述的新型剔卡檢測裝置，其特征在于：

所述限位架的外設有限位導槽，位于脫離開口相對的一限位架設有導槽開口。