[發明專利]制造光伏器件的方法有效
| 申請號: | 201310081875.4 | 申請日: | 2013-03-14 |
| 公開(公告)號: | CN104051565B | 公開(公告)日: | 2017-03-01 |
| 發明(設計)人: | 曹金波;威廉.H.胡貝爾;梁勇;徐晟 | 申請(專利權)人: | 第一太陽能馬來西亞有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18;H01L31/0392;H01L31/073 |
| 代理公司: | 北京市柳沈律師事務所11105 | 代理人: | 葛青 |
| 地址: | 馬來西亞吉*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 制造 器件 方法 | ||
1.一種方法,包括:
(a)將覆蓋層設置在透明導電氧化物層上,其中所述覆蓋層包括元素鎂、鎂合金、二元鎂氧化物或它們的組合;
(b)在所述覆蓋層上設置窗口層;以及
(c)在所述透明導電氧化物層和所述窗口層之間形成層間層,其中所述層間層包括鎂。
2.如權利要求1所述的方法,其中步驟(a)包括將所述覆蓋層設置成與所述透明導電氧化物層直接接觸。
3.如權利要求2所述的方法,還包括在步驟(b)之前在所述覆蓋層上設置緩沖層。
4.如權利要求1所述的方法,還包括在所述透明導電氧化物層上設置緩沖層,并且其中步驟(a)包括將所述覆蓋層設置在所述緩沖層上。
5.如權利要求1所述的方法,其中所述透明導電氧化物層包括氧化鎘錫、氧化鋅錫、氧化銦錫、摻氟氧化錫、摻銦氧化鎘、摻雜氧化鋅或它們的組合。
6.如權利要求4所述的方法,其中所述緩沖層包括二氧化錫、氧化鋅、氧化銦、氧化鋅錫或它們的組合。
7.如權利要求1所述的方法,其中所述窗口層包括硫化鎘、氧合硫化鎘、硫化鋅、硫化鎘鋅、硒化鎘、硒化銦、硫化銦或它們的組合。
8.如權利要求1所述的方法,還包括在所述窗口層上設置吸收層。
9.如權利要求8所述的方法,其中所述吸收層包括碲化鎘、碲化鎘鋅、碲化鎘硫、碲化鎘硒、碲化鎘錳、碲化鎘鎂、硫化銅銦、銅銦鎵硒化物、銅銦鎵硫化物或它們的組合。
10.如權利要求1所述的方法,其中所述覆蓋層的厚度在約0.2納米至約200納米的范圍內。
11.如權利要求1所述的方法,其中形成所述覆蓋層的步驟包括蒸發、原子層沉積、濺射或它們的組合。
12.如權利要求1所述的方法,其中同時實施步驟(b)和(c)。
13.如權利要求1所述的方法,其中順次地實施步驟(b)和(c)。
14.如權利要求1所述的方法,其中所述層間層還包括錫、硫、氧、鋅、鎘或它們的組合。
15.如權利要求1所述的方法,其中所述層間層包括鎂合金、含鎂和錫的化合物或它們的組合。
16.一種方法,包括:
(a)將覆蓋層設置在透明導電氧化物層上,其中所述覆蓋層包括元素鎂、鎂合金、二元鎂化物或它們的組合;
(b)在所述覆蓋層上設置窗口層,其中所述窗口層包括鎘和硫;以及
(c)在所述透明導電氧化物層和所述窗口層之間形成層間層,其中所述層間層包括鎂。
17.如權利要求1所述的方法,其中步驟(a)包括將所述覆蓋層設置成與所述透明導電氧化物層直接接觸。
18.如權利要求1所述的方法,還包括在所述透明導電氧化物層上設置緩沖層,并且其中步驟(a)包括將所述覆蓋層設置在所述緩沖層上。
19.如權利要求16所述的方法,其中所述層間層包括鎂合金、含鎂和錫的化合物或它們的組合。
20.一種方法,包括:
(a)將覆蓋層設置在位于透明導電氧化物層上的緩沖層上,其中所述覆蓋層包括二元鎂氧化物;
(b)在所述覆蓋層上設置窗口層,其中所述窗口層包括鎘和硫;
(c)在所述透明導電氧化物層和所述窗口層之間形成層間層,其中所述層間層包括鎂;以及
(d)在所述窗口層上設置吸收層。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





