[發(fā)明專利]一種用于CT探測采集系統(tǒng)的測試光源裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310081651.3 | 申請日: | 2013-03-14 |
| 公開(公告)號: | CN103167693A | 公開(公告)日: | 2013-06-19 |
| 發(fā)明(設計)人: | 高富強;李嶺;馮永;趙晉峰;陳研;蘭揚;嚴強;陳赟飛;周欽 | 申請(專利權)人: | 重慶大學 |
| 主分類號: | H05B37/02 | 分類號: | H05B37/02 |
| 代理公司: | 北京同恒源知識產(chǎn)權代理有限公司 11275 | 代理人: | 趙榮之 |
| 地址: | 400044 *** | 國省代碼: | 重慶;85 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 ct 探測 采集 系統(tǒng) 測試 光源 裝置 | ||
技術領域
本發(fā)明屬于CT探測采集系統(tǒng)測試領域,涉及一種用于CT探測采集系統(tǒng)的測試光源裝置。
背景技術
CT探測采集系統(tǒng)作為一種利用X射線進行掃描的檢測儀器,在工業(yè)、醫(yī)學等領域有著廣泛的應用,在醫(yī)學上,可以利用CT探測采集系統(tǒng)對病人的身體內(nèi)部組織結構和病變情況進行檢測,它能區(qū)分組織間密度的微小差異;在工業(yè)中,利用CT可以觀測到物體的內(nèi)部結構,并展現(xiàn)物質(zhì)內(nèi)部的缺陷和不均勻性,因此,隨著CT探測采集系統(tǒng)的不斷發(fā)展,其應用受到越來越多的重視。而正因為CT探測采集系統(tǒng)作為一種高精密儀器,所以對其性能和精度進行測試和調(diào)試也就成為一項非常重要的工作。
在對CT探測采集系統(tǒng)性能進行測試時,需要在光照條件下測試探測采集系統(tǒng)的各個通道數(shù)據(jù)接收情況,在此過程中,要求產(chǎn)生光照的光源穩(wěn)定性好、精度高,但普通的光源由于空間環(huán)境的影響以及本身所固有的一些局限等,無法滿足測試要求。
現(xiàn)有的用于CT探測采集系統(tǒng)的測試光源裝置一般采用LED燈直接供電照明,其光照強度在空間環(huán)境影響下會出現(xiàn)強弱波動,且光強不可調(diào)節(jié),穩(wěn)定性差,對探測采集系統(tǒng)的性能測試影響較大。因此,目前急需一種能夠保證CT探測采集系統(tǒng)測試性能的測試光源裝置。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本發(fā)明的目的在于提供一種用于CT探測采集系統(tǒng)的測試光源裝置,該裝置通過光強傳感器檢測光源測試點的光強值,反饋給核心處理器,配合軟件算法處理和驅(qū)動,實現(xiàn)測試光源的高精度性和高穩(wěn)定性,提供滿足CT探測采集系統(tǒng)測試要求的光源。
為達到上述目的,本發(fā)明提供如下技術方案:
一種用于CT探測采集系統(tǒng)的測試光源裝置,包括一組產(chǎn)生光照的光源、一組用于檢測光強值的光強傳感器、一組用于調(diào)節(jié)光源供電電壓的數(shù)字電阻以及一個核心處理器;每個光源對應有一個光強傳感器和一個數(shù)字電阻,每個光強傳感器對相應光源的光照強度進行檢測并將檢測到的光強值傳送至核心處理器,核心處理器將接收到的各光源的光強值與預設的額定值進行比較,并根據(jù)比較的差值調(diào)整相應的數(shù)字電阻,從而調(diào)節(jié)相應光源的供電電壓和光照強度。
進一步,核心處理器采用現(xiàn)場可編程門陣列FPGA,并包括一個用于存儲FPGA算法程序的配置芯片,一個用于提供時鐘信號晶體振蕩器。現(xiàn)場可編程門陣列FPGA作為處理核心不需要大量外圍電路驅(qū)動,能夠節(jié)約硬件成本,并且可移植性和可拓展性較高。
進一步,所述現(xiàn)場可編程門陣列FPGA還包括一個以太網(wǎng)接口。以太網(wǎng)接口用于與外接計算機相連,讀取測試結果。
進一步,所述光源采用LED燈。LED燈抗震性能好,且具有節(jié)能、使用壽命長等優(yōu)點。
進一步,所述核心處理器采用CPLD。
進一步,所述光源的數(shù)目為3個,所述光強傳感器的數(shù)目為3個,所述數(shù)字電阻的數(shù)目為3個。
本發(fā)明的有益效果在于:本發(fā)明的用于CT探測采集系統(tǒng)的測試光源裝置,具有光源可靠性高,穩(wěn)定性好,功耗低等優(yōu)點,且實現(xiàn)方案靈活方便,結構簡單,可維護性和可擴展性較強。
附圖說明
為了使本發(fā)明的目的、技術方案和有益效果更加清楚,本發(fā)明提供如下附圖進行說明:
圖1為本發(fā)明的結構示意圖。
具體實施方式
下面將結合附圖,對本發(fā)明的優(yōu)選實施例進行詳細的描述。
圖1為本發(fā)明的結構示意圖,如圖所示,本測試光源裝置包括一組產(chǎn)生光照的光源、一組用于檢測光強值的光強傳感器、一組用于調(diào)節(jié)光源供電電壓的數(shù)字電阻以及一個核心處理器;每個光源對應有一個光強傳感器和一個數(shù)字電阻,每個光強傳感器對相應光源的光照強度進行檢測并將檢測到的光強值傳送至核心處理器,核心處理器將接收到的各光源的光強值與預設的額定值進行比較,并根據(jù)比較的差值調(diào)整相應的數(shù)字電阻,從而調(diào)節(jié)相應光源的供電電壓和光照強度。
本測試光源裝置中光源的穩(wěn)定性主要由一套獨立的軟件算法實現(xiàn),此算法運行在核心處理器上,但對處理器類型并無特殊限制,在本實施例中,核心處理器采用現(xiàn)場可編程門陣列FPGA,F(xiàn)PGA作為處理核心不需要大量外圍電路驅(qū)動,能夠節(jié)約硬件成本,并且可移植性和可拓展性較高。
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