[發(fā)明專利]密封圈老化測試裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310081055.5 | 申請日： | 2013-03-14 |
| 公開（公告）號： | CN104048907A | 公開（公告）日： | 2014-09-17 |
| 發(fā)明（設計）人： | 周明杰;汪輝 | 申請（專利權）人： | 深圳市海洋王照明工程有限公司;海洋王照明科技股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N17/00 | 分類號： | G01N17/00 |
| 代理公司： | 廣州三環(huán)專利代理有限公司 44202 | 代理人： | 郝傳鑫;熊永強 |
| 地址： | 518000 廣東省深圳市*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 密封圈 老化 測試 裝置 | ||
1.一種密封圈老化測試裝置，其特征在于，所述密封圈老化測試裝置包括收容座、溫度探頭及溫度計，所述收容座包括本體和蓋體，所述密封圈放置于所述本體的內(nèi)表面，所述蓋體安裝于所述本體上并遮蓋所述密封圈，所述溫度探頭安裝在所述蓋體的內(nèi)表面，所述溫度計用于量測所述收容座內(nèi)部的溫度，其中，測試時，將所述收容座放入高溫箱，所述溫度計放在所述高溫箱外，所述溫度探頭將探測到的所述收容座內(nèi)部的溫度傳給所述溫度計，使所述收容座內(nèi)部的溫度達到預定溫度并保持一定的時間，以對所述密封圈進行老化測試。
2.根據(jù)權利要求1所述的密封圈老化測試裝置，其特征在于，所述密封圈老化測試裝置還包括連接部，所述連接部安裝在所述蓋體的外表面并與所述溫度探頭連接。
3.根據(jù)權利要求2所述的密封圈老化測試裝置，其特征在于，所述連接部為傳感線。
4.根據(jù)權利要求2所述的密封圈老化測試裝置，其特征在于，所述溫度計與所述連接部連接，所述溫度探頭將探測到的所述收容座內(nèi)部的溫度通過所述連接部傳給所述溫度計。
5.根據(jù)權利要求1所述的密封圈老化測試裝置，其特征在于，所述溫度計為無線溫度計，所述溫度探頭將探測到的所述收容座內(nèi)部的溫度直接傳給所述溫度計。
6.根據(jù)權利要求4或5所述的密封圈老化測試裝置，其特征在于，所述溫度計包括發(fā)光源，用于觀察所述收容座的內(nèi)表面是否有所述密封圈因為老化而釋放出的硅粉。
7.根據(jù)權利要求6所述的密封圈老化測試裝置，其特征在于，所述收容座內(nèi)表面包括六個內(nèi)表平面，所述發(fā)光源發(fā)出的光線照射于所述收容座內(nèi)且與其中一個內(nèi)表平面平行。
8.根據(jù)權利要求1所述的密封圈老化測試裝置，其特征在于，所述本體為可耐高溫的鋼化玻璃板。
9.根據(jù)權利要求8所述的密封圈老化測試裝置，其特征在于，所述蓋體為可耐高溫的鋼化玻璃罩。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于深圳市海洋王照明工程有限公司;海洋王照明科技股份有限公司，未經(jīng)深圳市海洋王照明工程有限公司;海洋王照明科技股份有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權和技術合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310081055.5/1.html，轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
