[發明專利]一種基于交流選相方式的電容器內熔絲試驗回路及其試驗方法

有效

• 申請號: 201310080731.7
• 申請日: 2013-03-13
• 公開（公告）號: CN103176105A
• 公開（公告）日: 2013-06-26
• 發明（設計）人: 蔡重凱;陳曉宇;李電;金百榮;洪金琪;秋勇;呂丹;夏嶸;沈勇;嚴軍;施明明;王國棟
• 申請（專利權）人: 紹興電力局;國家電網公司
• 主分類號: G01R31/07
• 分類號: G01R31/07
• 代理公司: 紹興市越興專利事務所 33220
• 代理人: 蔣衛東

技術領域

????本發明及一種基于交流選相方式的電容器內熔絲試驗回路及其試驗方法，屬于電力電容器技術領域。?

背景技術

????目前，內熔絲在電力電容器中的應用越來越多，其作用是當電容器元件發生故障時，對應的內熔絲快速熔斷，隔離故障元件，保護其它完好元件，保證電容器能夠正常運行。在實際應用中，由于選型的不合理，導致內熔絲不能及時熔斷，起不到保護作用，因此在內熔絲的選型配置時，必須進行試驗，檢驗其熔斷性能。目前，比較常用的方法包括直流電壓刺穿法和交流刺穿法。相比直流刺穿法，在交流電壓下進行刺穿試驗更符合實際情況。但由于電容器元件一般在電壓峰值是出現擊穿，因此內熔絲的熔斷特性，需要元件峰值刺穿時進行試驗，對于在非峰值擊穿時的試驗意義不大。在交流方式下，機械刺穿時的電壓相位不易受控制，為保證峰值刺穿的電容器能達到一定數量，以檢驗其熔斷特性，必須提供相當數量的電容器試品，成本較高，且采用機械刺穿法，費時費力。?

發明內容

本發明的目的在于提供了一種基于交流選相方式的電容器內熔絲試驗回路及其試驗方法，在交流電壓方式下，通過選相斷路器合閘來模擬電容器元件峰值擊穿，不用在電容器外殼打孔和刺穿，可保證每次試驗的有效性，以達到省時省力，節約成本的效果。?

為了達到上述目的，本發明的技術方案是：?

一種基于交流選相方式的電容器內熔絲試驗回路，包括試驗電源Ｕｓ、第一電容器Ｃ_１、第二電容器Ｃ_２、第一試品電容器Ｃ_m-1.1、第二試品電容器Ｃ_m.n-1、流變CT、選相斷路器Ｋ、內熔絲Ｒ、壓變PT、波形記錄儀JL；其中所述的試驗電源Ｕｓ通過線路與第一電容器Ｃ_１和第二電容器Ｃ_２串聯成一回路；所述的第一試品電容器Ｃ_m-1.1、第二試品電容器Ｃ_m.n-1、流變串聯后與第二電容器Ｃ_２并聯連接；所述的選相斷路器Ｋ、內熔絲Ｒ串聯后與第二試品電容器Ｃ_m.n-1并聯連接；所述的第二電容器Ｃ_２兩端連接有壓變PT；所述的壓變PT通過線路與選相斷路器Ｋ相連；所述的波形記錄儀JL分別通過線路與流變CT、壓變PT相連。

一種基于交流選相方式的電容器內熔絲試驗回路的試驗方法，包括如下步驟：1）定制第一試品電容器Ｃ_m-1.1、第二試品電容器Ｃ_m.n-1；2）選擇第一電容器Ｃ_１、第二電容器Ｃ_２；3)將步驟1）和步驟2）確定的第一試品電容器Ｃ_m-1.1、第二試品電容器Ｃ_m.n-1、第一電容器Ｃ_１、第二電容器Ｃ_２以及試驗電源Ｕｓ、流變CT、選相斷路器Ｋ、內熔絲Ｒ、壓變PT、波形記錄儀JL連接形成電容器內熔絲試驗回路；3）打開電源Ｕｓ的開關送電，選相斷路器Ｋ檢測到壓變ＰＴ的測量信號，當電壓位于峰值時，立即合上選相斷路器Ｋ，與其并聯的第一試品電容器Ｃ_m-1.1對內熔絲Ｒ放電，內熔絲Ｒ瞬間流過高頻大電流，發生暫態或工頻續流熔斷，斷開選相斷路器Ｋ；?4）在步驟3）進行的同時，波形記錄儀JL記錄電壓U和電流I的波形，根據電壓U和電流I的波形可計算內熔絲R的熔斷時間以及分析內熔絲Ｒ的熔斷性能；6）更換內熔絲Ｒ，重復步驟3）和步驟4）試驗，綜合所有試驗數據，得出待選型電容器Cx最佳的內熔絲配置方案。?

所述的步驟1）具體為根據元件結構為Ｍ并Ｎ串的待選型電容器Cx，定制第一試品電容器Ｃ_m-1.1、第二試品電容器Ｃ_m.n-1，且所述的第一試品電容器Ｃ_m-1.1、第二試品電容器Ｃ_m.n-1的工藝參數與待選型電容器Cx一致，結構上，第一試品電容器Ｃ_m-1.1元件結構為Ｍ－１并１串，第二試品電容器Ｃ_m.n-1元件結構為Ｍ并Ｎ－１串。?

所述的步驟2）具體為根據待選型電容器Cx的技術參數選擇第一電容器Ｃ_１、第二電容器Ｃ_２，要求電源Us送電后第二電容器Ｃ_２兩端的電壓等于待選型電容器Cx的額定電壓。?