[發明專利]一種高壓電器用絕緣支撐件抗電老化性能分析方法

無效

• 申請號: 201310080679.5
• 申請日: 2013-03-14
• 公開（公告）號: CN103197207A
• 公開（公告）日: 2013-07-10
• 發明（設計）人: 晏年平;于欽學;曹淳楓;任挺;鐘力生
• 申請（專利權）人: 江西省電力科學研究院;西安交通大學;國家電網公司
• 主分類號: G01R31/12
• 分類號: G01R31/12
• 代理公司: 南昌市平凡知識產權代理事務所 36122
• 代理人: 姚伯川

1.一種絕緣支撐件抗電老化性能分析方法，其特征在于，所述方法在模擬的絕緣支撐件實際工作環境中，將正常及存在不同缺陷的絕緣支撐件分組進行電老化試驗，以30-40天為一個完整電老化時段；時段內以5天為一個周期，每個周期內測試得到絕緣支撐件的局部放電特性；絕緣支撐件的介質損耗因數和泄露電流；SF₆氣體分解產物及含量；然后綜合分析以上數據，得到各項參數與電老化時間的相關性，從而判斷出絕緣支撐件不同時期下的老化程度，推斷出絕緣支撐件的抗電老化性能。

2.根據權利要求1所述的絕緣支撐件抗電老化性能分析方法，其特征在于，所述模擬的絕緣支撐件實際工作環境，采用與運行狀況相同的試驗環境，包括壓力、溫度，以及電場強度，能模擬實際運行高壓電器設備中的絕緣支撐件老化過程。

3.根據權利要求1所述的絕緣支撐件抗電老化性能分析方法，其特征在于，所述絕緣支撐件的局部放電特性包括放電量-放電相位分布特性Q-φ，放電次數放電相位分布特性n-φ，放電量-放電次數-放電相位分布特性Q-φ-n，以及上述三個分布圖譜的偏斜度Sk、峭度Ku、局部峰個數Pe參數。