[發明專利]一種生成二維相位解纏質量圖的方法及裝置

有效

• 申請號: 201310080570.1
• 申請日: 2013-03-13
• 公開（公告）號: CN103325092A
• 公開（公告）日: 2013-09-25
• 發明（設計）人: 柳罡;鄧云凱;王宇;李泓宇;陳潤璞;邵云峰;袁志輝;李興林
• 申請（專利權）人: 中國科學院電子學研究所
• 主分類號: G06T5/00
• 分類號: G06T5/00
• 代理公司: 北京派特恩知識產權代理事務所(普通合伙) 11270
• 代理人: 張穎玲;孟桂超

1.一種生成二維相位解纏質量圖的方法，其特征在于，該方法包括：

將纏繞相位數據變換為N_g個灰度等級數據；

對變換后的灰度等級數據進行分塊，將分塊后的每個數據塊生成對應的灰度共生矩陣(GLCM)；

采用新型的熵差計算模型計算生成的每個數據塊對應的所述GLCM的熵差，得到二維相位解纏質量圖；

所述新型的熵差計算模型為：

E=-Σk=0Ng-1PY(k)×log[PY(k)];]]>

PY(k)=Σi=1NgΣj=1Ngp(i,j,d,θ),G(|W(i~-j~)-W(i~-j~)‾|)=k,k=0,1,...,Ng-1;]]>

其中，E表示熵差，i、j表示兩個像素的灰度級，d表示兩個像素之間的距離，θ表示兩個像素連線與橫軸的夾角，W表示纏繞算子，表示未經量化的i值，表示未經量化的j值，G表示灰度級量化操作，p(i，j，d，θ)表示歸一化GLCM元素。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述將纏繞相位數據變換為N_g個灰度等級數據，為：

將纏繞相位圖中每個像素的相位值通過一個常數函數映射為N_g個灰度等級數據中的一個。