[發(fā)明專利]一種用于提高相位調(diào)制器半波電壓測量可信度的方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310078412.2
• 申請日: 2013-03-12
• 公開（公告）號: CN103178954A
• 公開（公告）日: 2013-06-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王賡;魏正軍;陳文芬;郭莉;王金東;張智明;郭健平;劉頌豪
• 申請（專利權(quán)）人: 華南師范大學(xué)
• 主分類號: H04L9/08
• 分類號: H04L9/08
• 代理公司: 廣州粵高專利商標(biāo)代理有限公司 44102
• 代理人: 林麗明

1.一種用于提高相位調(diào)制器半波電壓測量可信度的方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1.設(shè)置單個(gè)相位掃描點(diǎn)所需發(fā)送的光子脈沖數(shù)N；

S2.根據(jù)通信系統(tǒng)設(shè)置相關(guān)參數(shù)，包含平均每脈沖光子數(shù)μ、傳輸衰減率λ及探測器的平均探測效率η，分析計(jì)算每個(gè)光子從發(fā)送端到達(dá)探測器的概率x及探測器探測到光子的概率p；

S3.設(shè)置不完善干涉引起的誤碼率閾值QBER_opt和半波電壓測量可信度y；

S4.根據(jù)誤碼率閾值QBER_opt計(jì)算出相位誤差并計(jì)算出起始相位角

S5.根據(jù)下式計(jì)算出達(dá)到半波電壓測量可信度y，且誤碼率閾值QBER_opt時(shí)所需探測到的光子數(shù)目k，y=Σθ=απCNk(xp)k(1-xp)N-kΣθ=0πCNk(xp)k(1-xp)N-k;]]>

S6.進(jìn)行半波電壓的掃描測量，驗(yàn)證探測器所探測的光子數(shù)是否達(dá)到探測光子數(shù)目k的探測要求；在半波電壓掃描周期內(nèi)，兩探測器在各計(jì)數(shù)最高點(diǎn)其光子計(jì)數(shù)均在k以上，則滿足探測要求，執(zhí)行步驟S7；否則返回再次執(zhí)行步驟S6；

S7.對兩探測器計(jì)數(shù)最高點(diǎn)對應(yīng)的加載電壓進(jìn)行差值計(jì)算，得到相位調(diào)制器半波電壓。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于提高相位調(diào)制器半波電壓測量可信度的方法，其特征在于，所述步驟S1中光子脈沖數(shù)N大于1×10³。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于提高相位調(diào)制器半波電壓測量可信度的方法，其特征在于，所述步驟S2中每個(gè)光子從發(fā)送端到達(dá)探測器的概率x為x=μη（1-λ）。

4.根據(jù)權(quán)利要求1或3所述的用于提高相位調(diào)制器半波電壓測量可信度的方法，其特征在于，所述μ的范圍為0-1，λ的范圍為0-1，η的范圍為0-1。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于提高相位調(diào)制器半波電壓測量可信度的方法，其特征在于，所述誤碼率閾值QBER_opt為0-11.5%。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于提高相位調(diào)制器半波電壓測量可信度的方法，其特征在于，所述步驟S4中誤碼率閾值QBER_opt與相位誤差的關(guān)系式為：

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于提高相位調(diào)制器半波電壓測量可信度的方法，其特征在于，所述探測器探測到光子的概率p是不同驅(qū)動(dòng)電壓加載情況下探測器探測到光子的概率：其中θ為加載驅(qū)動(dòng)電壓與計(jì)數(shù)最低點(diǎn)電壓所對應(yīng)相位的差值。