[發明專利]一種激光雷達數據的重采樣方法有效
| 申請號: | 201310078250.2 | 申請日: | 2013-03-12 |
| 公開(公告)號: | CN103163512A | 公開(公告)日: | 2013-06-19 |
| 發明(設計)人: | 王健蓉;楊春河;陳朝暉;張威泰;王立;張洪華;王振華 | 申請(專利權)人: | 北京控制工程研究所 |
| 主分類號: | G01S7/48 | 分類號: | G01S7/48 |
| 代理公司: | 中國航天科技專利中心 11009 | 代理人: | 褚鵬蛟 |
| 地址: | 100080 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 激光雷達 數據 采樣 方法 | ||
1.一種激光雷達數據的重采樣方法,所述激光雷達數據為激光雷達三維成像敏感器所獲得的數據,所述激光雷達數據為XWide×Len維的矩形點陣所對應的斜距和電機角的信息,Len=XNum×YLen;其中X維由XWide個點組成,Y維由YLen個掃描條帶組成,每個掃描條帶由XNum個線陣組成,其特征在于,步驟如下:
根據激光雷達三維成像敏感器掃描特性,計算每個掃描條帶的零位;
根據X維的視場角度范圍以及偏差,計算X維的XWide個實際分布點的實際分布模型;
根據Y維的視場角度范圍,計算規則化模板的等分距離;
采用Y維的視場角度的幅值作為基準,以規則化模板的等分距離為步進,計算X維的Len個理想分布點的理想分布模型;
對于X維的每一個理想分布點,在以該理想分布點為中心,規則化模板的等分距離的一半為半徑的范圍內,查找該范圍內X維的實際分布點的位置;求該范圍內各個實際分布點的位置的均值并取整獲得該理想分布點所對應的位置;
根據每一個理想分布點所對應的位置以及每個掃描條帶的零位建立規則化模板,將XWide×Len維的矩形點陣規整成Len×Len維的規則化模板;
根據所建立的規則化模板進行重采樣。
2.根據權利要求1所述的一種激光雷達數據的重采樣方法,其特征在于,所述規則化模板的建立方法如下:
ScanPix[iPix][jPix]=Xn[iPix]+ScanMid[jMid],
其中ScanPix[iPix][jPix]為零位校正后的X維的位置信息,iPix從1取至Len,jPix從1取至Len,jMid=mod(jPix,YLen),mod為求余函數;Xn[iPix]為理想分布點iPix所對應的位置信息,ScanMid[jMid]為jPix所對應的掃描條帶jMid的零位。
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