[發(fā)明專利]分析用儀器和使用該分析用儀器的分析裝置及分析方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310077581.4 | 申請(qǐng)日： | 2008-10-28 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN103252261A | 公開（公告）日： | 2013-08-21 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 佐伯博司;來島知裕;田頭幸造;白石正人;杉本博文;岡田謙二 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 松下電器產(chǎn)業(yè)株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào)： | B01L3/00 | 分類號(hào)： | B01L3/00 |
| 代理公司： | 上海專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 31100 | 代理人： | 馬淑香 |
| 地址： | 日本*** | 國(guó)省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 分析 儀器 使用 裝置 方法 | ||
【權(quán)利要求書】：
1.一種分析用儀器，其特征在于，使蓋基板與挖有成為流路的槽的底座基板重疊以在內(nèi)部形成毛細(xì)管腔，并且設(shè)置基端與所述毛細(xì)管腔連接且前端從蓋基板突出的滴注部，
所述滴注部的前端形成為朝離開所述底座基板的流路形成面的方向突出的半球狀。
2.如權(quán)利要求1所述的分析用儀器，其特征在于，
對(duì)所述毛細(xì)管腔的壁面實(shí)施親水處理。
3.如權(quán)利要求1所述的分析用儀器，其特征在于，
設(shè)有凸肋，該凸肋比所述滴注部低，且空開縫隙圍住所述滴注部。
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