[發明專利]一種近程高分辨率探測成像方法及裝置有效
| 申請號: | 201310077286.9 | 申請日: | 2013-03-11 |
| 公開(公告)號: | CN103176183A | 公開(公告)日: | 2013-06-26 |
| 發明(設計)人: | 王豐貴;楊傳法;楊秀蔚;崔洪亮;成巍;王忠民 | 申請(專利權)人: | 山東省科學院自動化研究所 |
| 主分類號: | G01S13/89 | 分類號: | G01S13/89 |
| 代理公司: | 濟南圣達知識產權代理有限公司 37221 | 代理人: | 張勇 |
| 地址: | 250014 山*** | 國省代碼: | 山東;37 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 近程 高分辨率 探測 成像 方法 裝置 | ||
1.一種近程高分辨率探測成像裝置,其特征是,它包括線性調頻源,線性調頻源分別與發射天線陣列和混頻器陣列相連,所述發射天線陣列與接收天線陣列相配合,所述接收天線陣列通過低噪聲放大器陣列與混頻器陣列相連,所述混頻器陣列與多路數據采集模塊相連,所述多路數據采集模塊與信號處理與成像模塊相連。
2.如權利要求1所述一種近程高分辨率探測成像裝置,其特征是,所述線性調頻源與混頻器間還設有延時單元。
3.如權利要求1所述一種近程高分辨率探測成像裝置,其特征是,所述發射天線陣列與接收天線陣列采用1發多收的天線陣列。
4.一種基于近程高分辨率探測成像裝置的探測成像方法,其特征是,具體步驟為:
步驟一:確定探測區域,傳播介質的介電常數及成像分辨率,線性調頻源輸出兩路調頻信號,一路作為發射信號經發射天線陣列輻射,另一路被作為本振信號輸出至混頻器陣列;
步驟二:確定第i組收發天線對對應相應點的傳播路徑li(A)及探測區域每一點相對每組收發天線對的信號傳播時間ti(A),將ti(A)存儲到高速存儲器;
步驟三:接收天線陣列接收探測目標反射的回波信號,輸出至混頻器陣列,與步驟一中所述的本振信號經混頻器陣列混頻得到中頻信號;
步驟四:對混頻器陣列中的每個混頻器輸出的中頻信號處理得到其頻譜,并將第i個混頻器的頻譜記為Si(Δf),并根據混頻器輸出中頻信號的頻譜得到目標散射信號的時延譜Si(Δt);
步驟五:判斷環境參數和成像分辨率是否發生調整,如果環境參數和成像分辨率發生改變則返回步驟一,如果環境參數和成像分辨率未改變則判斷是否需要對環境背景成像,如果需要對背景成像則執行步驟六,如果需要對目標信號成像則執行步驟七;
步驟六:去除目標信號,保留背景信號,然后計算Si(Δt)對應的后向散射信號幅度值,計算L個收發天線對的后向散射信號的幅度值,進行相干疊加得到PBGtotal(A),將其存儲至高速存儲器;
步驟七:提取目標信號,然后計算Si(Δt)對應的后向散射信號幅度值,計算L個收發天線對的后向散射信號的幅度值,進行相干疊加后得到Ptotal(A),再與存至高速存儲器的PBGtotal(A)疊加后得到最終的探測區域的成像,得到探測目標的位置信息。
5.如權利要求4所述的探測成像方法,其特征是,所述步驟二的具體步驟為:
(2-1)確定第i組收發天線對對應M*N個點的傳播路徑li(A),探測區域長為M點,寬為N點,收發天線對的數目為L,則需M*N*L組運算,探測區域任意一點A相對于第i組收發天線對的傳播路徑記為li(A);
(2-2)根據步驟(2-1)中的傳播路徑,確定探測區域每一點相對每組收發天線對的信號傳播時間,并將每組收發天線對的信號傳播時間ti(A)存儲到高速存儲器;。
ti(A)=li(A)/v
6.如權利要求4所述的探測成像方法,其特征是,所述步驟四的具體步驟為:
根據混頻器輸出中頻信號的頻譜Si(Δf),并利用公式:
Δt-tdi=(Δf/B)·T0=(T0/B)·Δf
Δf=(B/T0)·(Δt-tdi)
得到目標散射信號的時延譜Si(Δt),其中,B為寬帶線性調頻信號的帶寬,tdi為線性調頻源與第i個混頻器間延時單元的延遲時間。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于山東省科學院自動化研究所,未經山東省科學院自動化研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310077286.9/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:口腔護理盒
- 下一篇:基于機械泵組的鋼液真空精煉系統





