[發明專利]基于反卷積的雙光路光譜測量裝置有效
| 申請號： | 201310076767.8 | 申請日： | 2013-03-11 |
| 公開（公告）號： | CN103148942A | 公開（公告）日： | 2013-06-12 |
| 發明（設計）人： | 柏連發;張毅;陳錢;顧國華;岳江;韓靜 | 申請（專利權）人： | 南京理工大學 |
| 主分類號： | G01J3/28 | 分類號： | G01J3/28;G01J3/02 |
| 代理公司： | 南京理工大學專利中心 32203 | 代理人： | 吳樹山 |
| 地址： | 210094 *** | 國省代碼： | 江蘇;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 卷積 雙光路 光譜 測量 裝置 | ||
1.基于反卷積的雙光路光譜測量裝置，其特征在于該裝置設置為雙光路結構，一光路由目標物鏡（1）、狹縫（2）、準直鏡（3）、分束鏡（4）、色散元件（5）、第一匯聚鏡頭（6）和第一CCD相機（7）依次組成，另一光路由分束鏡（4）、第二匯聚鏡頭（8）和第二CCD相機（9）依次組成；外部光源經目標物鏡（1）匯聚到狹縫（2）上，狹縫（2）設置在目標物鏡（1）和準直鏡（3）的焦點上，通過狹縫（2）的光經過準直鏡（3）后將變成平行光，當平行光入射到分束鏡（4）上時，一部分光將發生反射并通過第二匯聚鏡頭（8）匯聚到第二CCD相機（9）上，形成未色散的原像；另一部分光透過分束鏡（4），垂直入射到色散元件（5）上，經色散后的光被第一會聚鏡頭（6）匯聚到第一CCD相機（7）上形成色散后光的像，通過計算未色散光的原像和色散后光的像的反卷積來獲取外部光源光譜。
2.根據權利1所述的雙光路光譜測量裝置，其特征在于狹縫（2）寬度小于準直鏡（3）的有效聚焦寬度。
3.根據權利1或2所述的雙光路光譜測量裝置，其特征在于狹縫（2）的寬度方向與色散元件（5）的光色散方向一致。
4.根據權利1所述的雙光路光譜測量裝置，其特征在于色散元件（5）為光柵或棱鏡。
5.根據權利3所述的雙光路光譜測量裝置，其特征在于色散元件（5）為光柵或棱鏡。
6.根據權利1所述的雙光路光譜測量裝置，其特征在于目標物鏡（1）、準直鏡（3）、第一匯聚鏡頭（6）和第二匯聚鏡頭（8）均為CCTV鏡頭或相機鏡頭。
7.根據權利1所述的雙光路光譜測量裝置，其特征在于第一CCD相機（7）和第二CCD相機（9）均為黑白工業數字相機。
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