[發明專利]內存單元測試系統及應用于該系統中的引腳外接單元

在審

• 申請號: 201310075783.5
• 申請日: 2013-03-11
• 公開（公告）號: CN104050062A
• 公開（公告）日: 2014-09-17
• 發明（設計）人: 黃發生
• 申請（專利權）人: 鴻富錦精密工業（深圳）有限公司;鴻海精密工業股份有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種內存單元測試系統，尤其涉及一種具有可快速插拔的引腳外接單元的內存單元測試系統。

背景技術

當前計算機內存速率越來越快，容量越來越大，這對內存數據的讀取穩定性提出更高要求。業界目前使用測量內存在不同參考電壓下的數據讀取工作穩定度來評估計算機內存的性能好壞，即內存工作電壓范圍測量?，F有測內存工作電壓測量方法要求針對每一內存單元均進行電壓測量，在更換測試點時，需要關閉計算機，然后重新焊接測試點，這樣一塊主機板一種內存配置的測試最多需要重復開關機以及焊接八次，極大消耗測試時間，同時焊接也帶來損壞主機板的危險。

發明內容

有鑒于此，本發明提供一種內存單元測試系統及應用于該系統中的引腳外接單元，以解決上述問題。

一種內存單元測試系統，包括一計算機、一可調電阻單元、一電壓表及一引腳外接單元。該計算機包括一內存單元接口，用于連接待測內存單元，該可調電阻單元用于調節內存單元的工作電壓，該引腳外接單元，包括基板及多個導電柱，所述多個導電柱對應于內存接口單元的引腳的位置排列設置在基板上，用于將內存單元接口的上的引腳引出以方便焊接可調電阻單元及電壓表。該計算機中存儲有一內存單元測試軟件，用于在不同的工作電壓下測試內存單元穩定性。

一引腳外接單元，包括基板及多個導電柱，該基板用于設置導電柱。該多個導電柱，用于連接內存單元接口背面相應的引腳，其中，該多個導電柱對應于內存單元接口背面的引腳位置垂直排列插設在上述基板上。

本發明提供一種內存單元測試系統及應用于該系統中的引腳外接單元，結合內存單元接口背面的引腳結構，通過可快速插拔的引腳外接單將內存單元上相關電壓引腳外置，以方便焊接，能有效地保護主板并大大提高了內存單元的測試效率。

附圖說明

圖1為本發明一實施例內存單元測試系統的示意圖。

圖2為圖1所示內存單元測試裝置中引腳外接單元的立體示意圖。

圖3為圖2所示引腳外接單元連接至內存單元接口背面引腳的剖面示意圖。

主要元件符號說明

內存單元測試系統1計算機10可變電阻單元11引腳外接單元12電壓表13內存單元14內存單元測試軟件15主板101內存單元接口102引腳103基板121導電柱122測試用導電柱1221非測試用導電柱1222中空部1223彈片123