[發(fā)明專利]時鐘芯片的測試方法和系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310074100.4
• 申請日: 2013-03-07
• 公開（公告）號: CN104035021A
• 公開（公告）日: 2014-09-10
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 郭寶膽
• 申請（專利權(quán)）人: 上海宏測半導(dǎo)體科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28;G01R23/02
• 代理公司: 上海晨皓知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31260
• 代理人: 成麗杰

1.一種時鐘芯片測試方法，其特征在于，包含以下步驟：

A．根據(jù)時鐘芯片的測試原理，做好測試前準(zhǔn)備，包含：在測試平臺上編輯測試程序；連接所述測試平臺、測試負(fù)載板、被測器件接口、所述時鐘芯片和頻率計；

B．執(zhí)行所述測試程序，判斷所述時鐘芯片的存儲器是否能正常工作；并在判定所述存儲器正常工作時，采用所述頻率計測量所述時鐘芯片的晶振頻率，檢驗所述晶振頻率的精度；并將測量得到的晶振頻率換算得到的數(shù)值寫入所述存儲器的第一預(yù)設(shè)地址內(nèi)；

C．如果所述晶振頻率的精度符合所述時鐘芯片的頻率要求，則在所述時鐘芯片的工作溫度范圍內(nèi)，取至少四個溫度點，采用頻率計測量所述時鐘芯片的晶振頻率，并將測量得到的晶振頻率換算得到的數(shù)值和所述第一預(yù)設(shè)地址內(nèi)的數(shù)值分別寫入第二預(yù)設(shè)地址段內(nèi)；其中，所述第二預(yù)設(shè)地址段的個數(shù)與所述溫度點的個數(shù)相對應(yīng)；

D．根據(jù)所述第二預(yù)設(shè)地址段內(nèi)的數(shù)值，計算在所述時鐘芯片的工作溫度范圍內(nèi)，所述晶振頻率的溫度補償值，并存入所述存儲器的第三預(yù)設(shè)地址段內(nèi)；

E．讀出所述第三預(yù)設(shè)地址段內(nèi)的數(shù)值，觀察所述讀取的數(shù)值；并在所述讀取的數(shù)值符合預(yù)先設(shè)定的模擬曲線時，判定所述時鐘芯片通過溫度補償測試。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的時鐘芯片測試方法，其特征在于，在所述步驟B中，通過如下子步驟判斷所述時鐘芯片的存儲器是否能正常工作：

按照時鐘400kHz，向所述存儲器預(yù)留地址之后的所有地址寫入任意數(shù)，并讀出，進(jìn)行比較，如果讀出數(shù)據(jù)與寫入數(shù)據(jù)一致，則判定所述存儲器能正常工作；

其中，寫時，后面多寫一個地址；寫入時占用8個時鐘周期，并在第六個時鐘周期等待2.5毫秒；讀時，前面多讀一個地址。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的時鐘芯片測試方法，其特征在于，在所述步驟B和所述步驟C中，通過如下公式換算測量得到的晶振頻率：

（f-32768）/32768*1000000；

其中，f為測量得到的晶振頻率。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的時鐘芯片測試方法，其特征在于，在所述步驟C中，取四個溫度點，分別為零下40度，25度，55度，80度。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的時鐘芯片測試方法，其特征在于，在所述步驟B和步驟C中，采用高精密度，帶通用接口總線GPIB接口的頻率計；所述頻率計測量得到的晶振頻率通過GPIB通訊傳送到所述測試平臺上。

6.一種時鐘芯片測試系統(tǒng)，其特征在于，包含：測試平臺、測試負(fù)載板、被測器件接口和頻率計；所述測試平臺連接所述測試負(fù)載板；所述測試負(fù)載板連接所述被測器件接口，所述被測器件接口連接所述時鐘芯片；所述頻率計分別與所述時鐘芯片和所述測試平臺連接；

其中，在所述測試平臺上編輯測試程序；

所述測試平臺執(zhí)行所述測試程序，判斷所述時鐘芯片的存儲器是否能正常工作；并在判定所述存儲器正常工作時，采用所述頻率計測量所述時鐘芯片的晶振頻率，檢驗所述晶振頻率的精度；并將測量得到的晶振頻率換算得到的數(shù)值寫入所述存儲器的第一預(yù)設(shè)地址內(nèi)；

在判定所述晶振頻率的精度符合所述時鐘芯片的頻率要求時，所述測試平臺在所述時鐘芯片的工作溫度范圍內(nèi)，取至少四個溫度點，采用頻率計測量所述時鐘芯片的晶振頻率，并將測量得到的晶振頻率換算得到的數(shù)值和所述第一預(yù)設(shè)地址內(nèi)的數(shù)值分別寫入第二預(yù)設(shè)地址段內(nèi)；其中，所述第二預(yù)設(shè)地址段的個數(shù)與所述溫度點的個數(shù)相對應(yīng)；

所述測試平臺根據(jù)所述第二預(yù)設(shè)地址段內(nèi)的數(shù)值，計算在所述時鐘芯片的工作溫度范圍內(nèi)，所述晶振頻率的溫度補償值，并存入所述存儲器的第三預(yù)設(shè)地址段內(nèi)；

所述測試平臺讀出所述第三預(yù)設(shè)地址段內(nèi)的數(shù)值，觀察所述讀取的數(shù)值；并在所述讀取的數(shù)值符合預(yù)先設(shè)定的模擬曲線時，判定所述時鐘芯片通過溫度補償測試。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的時鐘芯片測試系統(tǒng)，其特征在于，所述測試平臺通過如下方式判斷所述時鐘芯片的存儲器是否能正常工作：

按照時鐘400kHz，向所述存儲器預(yù)留地址之后的所有地址寫入任意數(shù)，并讀出，進(jìn)行比較，如果讀出數(shù)據(jù)與寫入數(shù)據(jù)一致，則判定所述存儲器能正常工作；

其中，寫時，后面多寫一個地址；寫入時占用8個時鐘周期，并在第六個時鐘周期等待2.5毫秒；讀時，前面多讀一個地址。