[發明專利]一種多工位全自動激光功率測試方法及系統有效
| 申請號: | 201310072639.6 | 申請日: | 2013-03-07 |
| 公開(公告)號: | CN103162823A | 公開(公告)日: | 2013-06-19 |
| 發明(設計)人: | 朱辰;李晉忠;張昆;張大勇;張天華;張利明;李堯;王雄飛 | 申請(專利權)人: | 中國電子科技集團公司第十一研究所 |
| 主分類號: | G01J1/44 | 分類號: | G01J1/44 |
| 代理公司: | 工業和信息化部電子專利中心 11010 | 代理人: | 張蕾 |
| 地址: | 100015*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 多工位 全自動 激光 功率 測試 方法 系統 | ||
1.一種多工位全自動激光功率測試系統,其特征在于,包括:一個或多個激光器、與所述激光器分別一一相對應的主電控制電路板、分光鏡和繼電器;
所述激光器,用于發出激光光束;
所述主電控制電路板,用于接收與其相對應的分光鏡反射來的所述激光器的激光,并對所述激光進行分析判斷,當確定所述激光出現異常時,則觸發所述繼電器;
所述繼電器,用于關閉所述激光器的電源。
2.根據權利要求1所述的系統,其特征在于,所述主電控制電路板包括:硅光電探測電路和脈沖檢測電路;
所述硅光電探測電路,用于將所述分光鏡反射來的所述激光器的激光的光信號轉化為電信號,并發送給所述脈沖檢測電路;
所述脈沖檢測電路,用于接收所述硅光電探測電路發送來的電信號,將所述光信號進一步轉化為高電平信號,并對轉化后的高電平信號進行分析判斷,當確定所述高電平信號出現異常時,則觸發所述繼電器。
3.根據權利要求2所述的系統,其特征在于,所述主電控制電路板還包括:加電控制按鍵電路;
所述加電控制按鍵電路,用于控制所述主電控制電路板工作與否。
4.根據權利要求1-3任意一項所述的系統,其特征在于,還包括:電動平移臺、控制器和與所述激光器分別一一相對應的光功率計;
所述控制器,用于間隔預定的測試時間控制所述電動平移臺上的所述光功率計分別讀取所述光功率計所對應的分束鏡透射來的所述激光器的激光,并對透射過來的激光的功率進行記錄、分析和判斷,如果確定某一臺激光器發出的激光出現異常,則觸發所述繼電器;
所述光功率計,用于讀取與其相對應的分束鏡透射來的所述激光器發出的透射激光,并將透射來的所述激光的功率發送給所述控制器。
5.根據權利要求4所述的系統,其特征在于,
所述控制器還用于,控制所述電動平移臺移動使所述分光鏡透射來的激光到達與所述分光鏡相對應的光功率計上。
6.一種多工位全自動激光功率測試方法,其特征在于,應用一種多工位全自動激光功率測試系統,該系統包括:一個或多個激光器、與所述激光器分別一一相對應的主電控制電路板、分光鏡和繼電器;
多工位全自動激光功率測試方法包括:
所述主電控制電路板接收與其相對應的分光鏡反射來的所述激光器的激光,并對反射來的激光進行分析判斷,當確定反射來的激光出現異常時,則通過所述繼電器關閉所述激光器的電源。
7.根據權利要求6所述的方法,其特征在于,所述主電控制電路板包括:硅光電探測電路和脈沖檢測電路;
所述硅光電探測電路將所述分光鏡反射來的所述激光器的激光的光信號轉化為電信號,并發送給所述脈沖檢測電路;
所述脈沖檢測電路接收所述硅光電探測電路發送來的電信號,將所述電信號進一步轉化為高電平信號,并對轉化后的高電平信號進行分析判斷,當確定所述高電平信號出現異常時,則控制所述激光器的電源關閉。
8.根據權利要求7所述的方法,其特征在于,所述主電控制電路板還包括:加電控制按鍵電路;
通過所述加電控制按鍵電路控制所述主電控制電路板工作與否。
9.根據權利要求6-8任意一項所述的方法,其特征在于,還包括:電動平移臺、控制器和與所述激光器分別一一相對應的光功率計;
所述控制器間隔預定的測試時間控制所述電動平移臺上的所述光功率計分別讀取所述光功率計所對應的分束鏡透射來的所述激光器的激光,并對該激光的功率進行記錄、分析和判斷,如果確定某一臺激光器發出的激光出現異常,則控制該激光器的電源關閉。
10.根據權利要求9所述的方法,其特征在于,所述控制器控制所述電動平移臺移動使所述分光鏡透射來的激光到達與所述分光鏡相對應的光功率計上。
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