[發明專利]一種染色體異常核型室間質評圖及制備方法

有效

• 申請號: 201310072348.7
• 申請日: 2013-02-28
• 公開（公告）號: CN104017858B
• 公開（公告）日: 2019-04-09
• 發明（設計）人: 翁炳煥
• 申請（專利權）人: 翁炳煥
• 主分類號: G01N21/84
• 分類號: G01N21/84;G01N1/30
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種染色體異常核型室間質評圖的制備方法，其特征是取數例疑難和/或罕見染色體異常細胞懸液按比例混合，使原先每份細胞懸液中只有1種染色體異常核型轉變為每份細胞懸液中含有不同比例的、易于誤診的多種染色體異常核型并存的染色體嵌合體核型，進而經常規染色體制備、染色體嵌合體核型圖像攝取，獲得染色體異常核型室間質評圖。

2.根據權利要求1所述的一種染色體異常核型室間質評圖的制備方法，其特征在于，所述取數例細胞懸液按比例混合是以1例細胞懸液分別與另外的1～50例細胞懸液以1∶1～20的不同懸液體積或細胞數比例進行混合，混合后的細胞懸液含有不同類型和比例的染色體異常細胞，但作為同一例次的標本制作室間質評圖。

3.根據權利要求1所述的一種染色體異常核型室間質評圖的制備方法，其特征是染色體異常核型室間質評圖包括直接攝取的染色體異常核型圖像，或作1號染色體至22號染色體及性染色體按序數排列前常規處理后的染色體異常核型圖像，或作1號染色體至22號染色體及性染色體按序數排列后的染色體異常核型圖像。