[發明專利]平面回波成像序列圖像的重建方法

有效

• 申請號: 201310072198.X
• 申請日: 2013-03-06
• 公開（公告）號: CN104035059A
• 公開（公告）日: 2014-09-10
• 發明（設計）人: 張衛國;吳環;蔣先旺
• 申請（專利權）人: 上海聯影醫療科技有限公司
• 主分類號: G01R33/565
• 分類號: G01R33/565
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

【技術領域】

本發明涉及磁共振成像領域，尤其是涉及一種平面回波成像序列圖像的重建方法。

【背景技術】

目前在磁共振成像過程中，平面回波成像序列是一種快速的、只需要單個激發脈沖就可獲得完整圖像的磁共振成像序列。磁共振梯度系統周期性變換，產生一系列梯度回波；受激平面的圖像通過對產生的回波序列使用傅里葉變換而得到。

在傳統的平面回波成像中，序列的相位編碼梯度和頻率編碼梯度分別如圖1中表示的a和b，由于硬件系統的不完美，比如渦電流，數據采集延遲，磁場漂移等原因，在正和負的頻率編碼梯度下讀出的數據存在差異，如回波中心不一致，k空間每條線的間隔不等等情況。由于回波序列中奇數和偶數回波時間的不匹配或者相位差導致在重建之后得到的正常圖像在偏離實際的圖像視野一半的位置出現低強度的附加圖像，此即為N/2偽影，圖像出現了整體漂移以及變形如圖5所示。

為了盡可能地消除N/2偽影，現有技術中采用了一些校正方法，主要為兩種：相位校正和單邊讀出梯度法。

相位校正法包括一維相位校正方法以及二維相位校正法。一維相位校正法，在讀取數據之前，采集幾個不加相位編碼的回波信號，如圖1中的回波信號c，根據第一個和第二個回波信號，算出它們相位差異，把這些相位差作為校正量來校正采集到的圖像數據，即校正所有偶數項信號和奇數項信號之間的相位差。由于不是所有偶數項信號與奇數項信號之間的相位差都等于求得的校正量，所以該方法雖然簡單，但是效果不好，并不能有效地消除N/2偽影，同時目前的一維相位校正法并不能同時校正平面回波圖像的變形，這在低磁場的磁共振系統尤為明顯。

二維相位校正法，同樣是在讀取圖像數據前，采集一序列加相位編碼的回波信號，利用這些采集到的數據糾正真正的圖像數據。該方法消除N/2偽影的效果比較好，但是序列采集時間延長，平面回波成像序列失去了快速成像的優點。

單邊讀出梯度法只在一個極性的讀出梯度時采集數據，該方法可以完全避免N/2偽影問題，但是不能糾正圖像變形，浪費掃描時間。而且由于回波時間間隔比較長，圖像在相位編碼方向上的位移，以及因磁場不均勻導致的圖像變形更為嚴重。

綜上所述，現有技術中能夠有效消除N/2偽影的校正方法采集時間較長或者不能夠校正由于偏離場而導致的圖像變形，采集時間較短的校正方法去除N/2偽影的效果比較差且同時也不能夠校正圖像的變形。因此，需要提供一種更為精準的平面回波成像序列的圖像重建方法。

【發明內容】

為了解決現有技術中平面回波成像序列中消除N/2偽影效果差，不能校正圖像變形，以及采集時間較長的問題，本發明提供了一種更為精準的平面回波成像序列的圖像重建方法。

一種平面回波成像序列的圖像重建方法，包括如下步驟：

獲取平面回波成像數據S_i，并同時采集三條沒有經過相位編碼的參考回波信號R₁、R₂、R₃，所述三條參考回波信號分別為偶信號、奇信號以及偶信號；

通過所述參考回波信號計算出需要對所述平面回波成像數據進行校正的參數；

將所述平面回波成像數據沿讀出方向進行一維傅里葉變換得變換結果FS_i，并用所述校正參數校正FS_i，計算出校正后的平面回波成像數據；

對校正后的平面回波成像數據沿相位編碼方向做一維傅里葉變換得到圖像。

可選地，所述校正參數包括零次項相位偏差因子一次項相位偏差因子

可選地，對所述平面回波成像數據的偶數項信號或者奇數項信號進行校正，得到校正后的數據CFS_i(n)，

其中i為平面回波成像信號序數中的偶數項，或者

其中i為平面回波成像信號序數中的奇數項；

其中n為讀出方向樣本點的序數，Nro為讀出方向總樣本點的個數，當所述參考回波信號與平面回波成像信號的相應奇偶梯度極性一致時，所述sign＝+1，當所述參考回波信號與平面回波成像信號的相應奇偶梯度極性相反時，所述sign＝-1。

可選地，對所述平面回波成像數據的偶數項信號與奇數項信號進行校正，得到校正后的數據CFS_i(n)，

其中i為平面回波成像信號序數中的偶數項，以及

其中i為平面回波成像信號序數中的奇數項；