[發明專利]一種用于硬度測試的試樣固定裝置及其應用

有效

• 申請號: 201310071987.1
• 申請日: 2013-03-06
• 公開（公告）號: CN103163017A
• 公開（公告）日: 2013-06-19
• 發明（設計）人: 李寶虎;李強;金用強
• 申請（專利權）人: 上海鍋爐廠有限公司
• 主分類號: G01N3/02
• 分類號: G01N3/02;H01F7/00
• 代理公司: 上海申匯專利代理有限公司 31001
• 代理人: 翁若瑩;柏子雵

1.一種用于硬度測試的試樣固定裝置，其特征在于：包括形狀相同且尺寸相匹配的金屬殼體(III)及磁場發生底座；?

磁場發生底座位于金屬殼體(III)的下方，磁場發生底座接通直流電源后產生磁場；?

金屬殼體(III)內具有腔體，在腔體內填充有磁場感應顆粒，磁場感應顆粒在磁場作用下相互之間產生吸力，從而固定磁場感應顆粒中的試樣(V)并使其待測表面保持水平。?

2.如權利要求1所述的一種用于硬度測試的試樣固定裝置，其特征在于：所述磁場發生底座包括鐵芯(I)及纏繞在鐵芯(I)外并與其功率相匹配的導電繞組(II)，導電繞組(II)或直接連接直流電源(VI)或通過電流調節器(VII)連接直流電源(VI)。?

3.如權利要求2所述的一種用于硬度測試的試樣固定裝置，其特征在于：所述鐵芯(I)由消磁較快的軟鐵或硅鋼制作而成。?

4.如權利要求1所述的一種用于硬度測試的試樣固定裝置，其特征在于：所述磁場感應顆粒為鐵磁性顆粒。?

5.如權利要求4所述的一種用于硬度測試的試樣固定裝置，其特征在于：所述鐵磁性顆粒為鐵砂。?

6.如權利要求1所述的一種用于硬度測試的試樣固定裝置，其特征在于：還包括具有水平下表面的按壓裝置，按壓裝置置于試樣(V)的待測表面上后，向下按壓按壓裝置使其水平下表面緊密貼合試樣(V)的待測表面，從而將試樣(V)的待測表面校平。?

7.如權利要求6所述的一種用于硬度測試的試樣固定裝置，其特征在于：所述按壓裝置為階梯形按壓蓋(VIII)，階梯形按壓蓋(VIII)的下表面水平。?

8.一種如權利要求1所述的用于硬度測試的試樣固定裝置的應用方法，其特征在于：將試樣(V)埋入磁場感應顆粒內，試樣(V)的待測表面露出，將磁場發生底座接通直流電，磁場發生底座產生磁場，磁場感應顆粒在磁場的作用下相互之間產生吸力，從而固定磁場感應顆粒中的試樣(V)并使其待測表面保持水平。?

9.如權利要求8所述的一種用于硬度測試的試樣固定裝置的應用方法，其特征在于：當試樣(V)埋入磁場感應顆粒后，將按壓裝置的水平下表面對準試樣(V)的待測表面向下按壓試樣(V)，將試樣(V)的待測表面校平。?

10.如權利要求8所述的一種用于硬度測試的試樣固定裝置的應用方法，其特征在于：對試樣(V)進行固定前，利用標準硬度塊(IX)對用于硬度測試的試樣固定裝置進行調整校正，其步驟為：將標準硬度塊(IX)埋入磁場感應顆粒內，標準硬度塊(IX)的上表面露出，用按壓蓋使標準硬度塊(IX)表面保持水平，將磁場發生底座接通直流電，磁場發生底座產生磁場，磁場感應顆粒在磁場的作用下相互之間產生吸力，從而固定磁場感應顆粒中的標準硬度塊(IX)，在標準硬度塊(IX)上打點，讀數，調節電流，使測量值與標準硬度塊標準值一致，記下此時校正電流，校正結束，待校正完畢后，再對試樣(V)進行測量。?