[發明專利]電源老化測試的電子負載模塊及電源老化測試系統

有效

• 申請號: 201310069313.8
• 申請日: 2013-03-05
• 公開（公告）號: CN103149386A
• 公開（公告）日: 2013-06-12
• 發明（設計）人: 吳濤;龐成;黃明雄
• 申請（專利權）人: 深圳市中科源電子有限公司
• 主分類號: G01R1/00
• 分類號: G01R1/00;G01R31/40
• 代理公司: 深圳市智科友專利商標事務所 44241
• 代理人: 孫子才

技術領域

本發明涉及電源老化測試設備中的電子負載領域，特別涉及一種用于開關電源老化測試的可編程電子負載模塊以及由許多這樣的電子負載模塊組成的老化車、老化房等老化測試系統。

背景技術

為了檢驗和提高電源產品的可靠性、穩定性和安全性，對電源產品進行老化測試已成為此類產品生產工藝流程中的一個重要環節。所謂“老化”是指仿真出一種高溫的惡劣條件對電源產品進行長時間的滿負荷測試（又叫燒機測試或煲機，英文稱為：Burn-in?Test），以模擬實際使用可能出現的惡劣條件來檢驗產品的性能。

傳統的老化測試設備所使用假負載多以大功率電阻為主，也就第一代老化設備，其優點是成本低，簡單。但由于電源產品的種類及規格繁多，同一家電源工廠往往會有很多個機型，而每種機型的輸出規格又不盡相同，所需的假負載的阻抗及功率也不同，因此傳統的電阻型老化設備的缺點也就越來越突出，主要表現如下：

①??電阻阻值固定，可選規格少，很多需向工廠專門定制；

②??電源規格多樣，電阻無法精確匹配到老化所需的準確電流；

③??電阻誤差大，且溫升后易產生偏差，無法確保產品100%負荷老化；

④??調整負載大小需先計算，選擇負載電阻只能獲得近似電流值；

⑤??老化過程無法自動監控，需人工逐一巡查，效率低且易漏查；

⑥??無法記錄老化過程參數，不便于品質追溯管理；

⑦??無法生成老化報表，不便于產品品質的分析與評估；

針對于電阻型老化負載上述的突出缺點，出現了第二代的老化設備，即簡易的可調節型模擬電子負載，雖然成本比第一代的產品要高很多，但可以根據產品的規格調節負載電流，克服產品換線時，老化設備需要更換相應電阻的痛苦，同時在一定程度上也提高了老化的精度和效率。第二代負載克服了第一代負載的前三個缺點，但后面4項缺點依然突出，無法滿足現代化生產工藝的需求。雖然目前市面有很多標準的測試型電子負載儀器在性能和功能上完全可以滿足老化要求，但這類儀器通常價格昂貴、體積龐大，而且其設計主要針對研發、工程、生產等測試用，難以實現上百個通道的系統組網用于大批量老化。?

發明內容

本發明的目的是為了克服目前電子負載的不足，設計一種智能的電源老化測試的電子負載模塊以及將一組這樣的電子負載模塊集中管理的電源老化測試系統。

本發明的技術方案是：電源老化測試的電子負載模塊，所述的電子負載模塊包括驅動電路和作為模擬負載的一組場效應管，所述的場效應管的源、漏極分別連接到被老化的電源的輸出端與地之間，所述的驅動電路產生驅動信號與所述的場效應管的柵極相連，通過控制所述的場效應管的柵極電流或者電壓實現對被老化的電源的老化測試，還包括對電子負載單元進行控制的控制管理系統，所述的控制管理系統包括微處理單元、反饋電路和與上位機通信的通信接口電路；

所述的反饋電路包括測試被老化的電源的電流檢測電路和電壓檢測電路，所述的電流檢測電路和電壓檢測電路檢測的檢測結果輸入到所述的微處理器；

所述的微處理器接收到所述的反饋電路所檢測到的電流和電壓值，產生控制信號控制所述的驅動電路，由驅動電路驅動所述的場效應管，使所述的模擬負載為恒流或者恒壓模式的模擬負載?！?!-- SIPO -->

進一步的，上述的電源老化測試的電子負載模塊中：還包括模式切換及控制電路，所述的模式切換及控制電路由微處理器輸出的恒流或者恒壓控制信號控制；

所述的模式切換電路包括恒壓模式信號輸出電路和恒流模式信號輸出電路；

所述的控制電路包括恒流控制電路和恒壓控制電路，所述的恒壓控制電路包括比較器U503A，所述的比較器U503A的“＋”端接被老化電源的輸出端，“－”端接由所述的微處理器設置的參考電壓，電源端與恒壓模式信號相連，當恒壓模式信號有效時，比較器U503A得電工作產生使所述的驅動電路在恒壓模式工作的驅動信號接所述的驅動電路；

所述的恒流控制電路包括運算放大器U504A，所述的運算放大器U504A的“＋”端接由所述的微處理器設置的參考電壓，所述的比較器U504A的“－”端與輸出端相連構成電壓跟隨器，電源端與所述的恒流模式信號相連，當恒流模式信號有效時，產生使所述的驅動電路在恒流模式工作的驅動信號接所述的驅動電路。