[發明專利]陣列面板檢測電路結構

有效

• 申請號: 201310069063.8
• 申請日: 2013-03-05
• 公開（公告）號: CN103149713A
• 公開（公告）日: 2013-06-12
• 發明（設計）人: 付延峰
• 申請（專利權）人: 深圳市華星光電技術有限公司
• 主分類號: G02F1/13
• 分類號: G02F1/13;G02F1/1362;G01R31/00
• 代理公司: 深圳市順天達專利商標代理有限公司 44217
• 代理人: 蔡曉紅;林儉良

技術領域

本發明涉及顯示器制作技術，更具體地說，涉及一種陣列面板檢測電路結構。

背景技術

液晶顯示器是現今最常用的顯示器件，它通過陣列面板控制液晶的光學特性來實現圖案的顯示。陣列面板是否能正常工作做直接影像液晶顯示器的性能。因此在生產液晶顯示器的時候，在陣列面板完成后，都需要進行檢測，以確保陣列面板的正常工作，通過該檢測確定控制像素現實的薄膜晶體管是否正常運行，現有的檢測是為了檢測薄膜晶體管是否正常運行，一般采用短接棒布線來檢測，通過從薄膜晶體管的源、漏、柵極引出信號引線，配合短接棒來檢測。

例如圖1為現有技術利用短接棒進行檢測的示意圖，通過兩根短接棒，采用奇偶分開連接的方式，分別通過過孔與對應的柵極線短接相連，即第一柵極線130與第一短接棒110相連，第二柵極線140與第二短接棒120相連。而由于110位于120與140之間，此時第二柵極線140會“跨過”第一短接棒110。由于短接棒是使用柵極金屬制作的，而跨線位置150僅有柵極絕緣層。在源漏極技術圖形完成后的制程靜電容易在該跨線位置發生靜電釋放，導致擊穿柵極絕緣層，造成測試修補困難甚至產品損壞。

發明內容

本發明的目的在于，針對現有的陣列面板檢測過程中，容易造成產品的損壞的問題，提供一種陣列面板檢測電路結構，以克服上述缺陷。

本發明解決上述問題的方案是：構造一種陣列面板檢測電路結構，包括縱向設置并用于控制陣列面板顯示效果的第一柵極信號引線、第二柵極信號引線；橫向設置并用于檢測第一柵極信號引線的第一短接棒、橫向設置并用于檢測第二柵極信號引線的第二短接棒，且第二短接棒設置在第一短接棒的上方；用于將第一柵極信號引線連接到第一短接棒的第一檢測連接片；用于將第二柵極信號引線連接到第二短接棒的第二檢測連接片；第一柵極信號引線與第二柵極信號引線設置在第一短接棒的下方且與第一短接棒間設有間隔；第一檢測連接片的一端與第一柵極信號引線的一端連接，另一端與第一短接棒連接；第二檢測連接片的一端與第二柵極信號引線連接，另一端跨接到第二短接棒。

本發明的陣列面板檢測電路結構，第一檢測連接片和第二檢測連接片為氧化銦錫片。

本發明的陣列面板檢測電路結構，第二檢測連接片的另一端跨過第一短接棒與第二短接棒連接

本發明的陣列面板檢測電路結構，第一檢測連接片和第二檢測連接片上設置有用于將第一檢測連接片和第二檢測連接片連接到短接棒或柵極信號引線的過孔。

本發明的陣列面板檢測電路結構，過孔與短接棒的連接處、過孔與信號引線的連接處設置有用于減少靜電流過的鈍化層。

本發明的陣列面板檢測電路結構，信號引線從柵極引出，使用的材質為與源漏極相同的金屬。

本發明構造的另一種陣列面板檢測電路結構，包括縱向設置的第一信號引線、第二信號引線和第三信號引線；還包括橫向設置并分別對應檢測第一信號引線、第二信號引線和第三信號引線的第一短接棒、第二短接棒和第三短接棒，第二短接棒設置在第一短接棒的上方，第三短接棒設置在第二短接棒的上方；還包括將第一信號引線、第二信號引線和第三信號引線對應連接到第一短接棒、第二短接棒和第三短接棒的第一檢測連接片、第二檢測連接片和第三檢測連接片；第一信號引線、第二信號引線和第三信號引線設置在第一短接棒的下方且與第一短接棒間設有間隔；第一檢測連接片的一端與第一信號引線連接，另一端與第一短接棒連接；第二檢測連接片的一端與第二信號引線連接，另一端跨接到第二短接棒；第三檢測連接片的一端與第三信號引線連接，另一端跨接到第三短接棒。

本發明的陣列面板檢測電路結構，第一檢測連接片、第二檢測連接片和第三檢測連接片為氧化銦錫片。

本發明的陣列面板檢測電路結構，第二檢測連接片的另一端跨過第一短接棒與第二短接棒連接，第三檢測連接片的另一端跨過第一短接棒和第二短接棒與第三短接棒連接。

本發明的陣列面板檢測電路結構，第一檢測連接片、第二檢測連接片和第三檢測連接片上設置有用于將第一檢測連接片、第二檢測連接片和第三檢測連接片連接到短接棒或信號引線的過孔。

本發明的陣列面板檢測電路結構，過孔與短接棒的連接處、過孔與信號引線的連接處設置有用于減少靜電流過的鈍化層。

本發明的陣列面板檢測電路結構，信號引線從源漏極引出，使用的材質為與源漏極相同的金屬。