[發明專利]用于確定一組B1 場圖的方法

有效

• 申請號: 201310068632.7
• 申請日: 2013-03-05
• 公開（公告）號: CN103308873A
• 公開（公告）日: 2013-09-18
• 發明（設計）人: H-P.福茨
• 申請（專利權）人: 西門子公司
• 主分類號: G01R33/24
• 分類號: G01R33/24;G01R33/32;G01R33/561;G01R33/565
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 謝強

技術領域

本發明涉及一種用于確定對于磁共振裝置的高頻發送線圈的不同的發送通道的一組B1場圖的方法。

背景技術

磁共振成像及其原理在現有技術中已經廣泛公知。在此，將待檢查對象引入到相對高的基本磁場、即所謂的B0場中。此時為了在例如在一層中能夠拍攝磁共振數據，激勵該層的自旋并且例如觀察該激勵的衰減作為信號。在通過高頻發送線圈發送高頻的激勵脈沖（其通常被稱為高頻脈沖）期間，可以借助梯度線圈裝置產生梯度場。通過高頻脈沖產生高頻場，該高頻場通常稱為B1場，并且，將共振地激勵的核的自旋，通過梯度位置分辨地，以所謂的翻轉角相對于梯度磁場的磁力線翻轉。核的所激勵的自旋于是發射高頻信號，所述高頻信號借助合適的接收天線來接收并且能夠被進一步處理，以便能夠重建磁共振圖像數據。

通常的高頻發送線圈按照所謂的“均勻模式”、例如按照“CP模式”運行，其中，將具有定義的固定相位和幅值的唯一的高頻脈沖輸出到發送線圈的所有組件上，例如鳥籠天線的所有的發送棒。為了提高靈活性和為了實現用于改善成像的新的自由度，建議，也允許所謂的平行發送，其中對多個發送通道分別施加可以互相不同的單脈沖。然后，總體上在通過相應的參數組描述的控制序列中定義例如可以通過參數相位和幅值描述的單脈沖的整體性。由對于不同的發送通道的單脈沖綜合的這樣的多通道脈沖通常也被稱為（表示“平行發送”的）“pTX脈沖”。除了產生位置選擇性的激勵之外，在此也可以均衡場非均勻性（例如在“RF勻場”的范圍內）。

為了確定控制序列的控制參數組，需要識別在成像區域中，特別是均勻體積中，各個發送通道的效果。這目前在所謂的“B1映射（B1-Mapping）”中確定。在B1映射中，記錄對于每個發送通道的B1場圖，也就是說，B1場圖示出了，在特定的激勵情況下，例如單位激勵和/或在特定的發射器電壓的情況下，在成像區域中的特定位置處B1場多強，也就是說，為每個體素（圖像點）對應一個通常是復數的B1值，因而是B1幅值和B1相位。在此，B1場圖特別是在基本磁場的較高場強的情況下，特別是在≥3T的場強情況下是強烈取決于位置的，從而其必須對于每個待拍攝的對象被個別地拍攝。在此，B1映射拍攝與通常的成像方法相比典型地持續更長時間。

公知的B1映射方法通常必須測量由高頻脈沖所引起的翻轉角以及測量相位。從翻轉角然后以簡單的方式確定B1場的幅值。在此的問題是，所有的B1映射方法僅具有有限的靈敏度區域，這涉及作為測量參數的翻轉角。在此，通常將靈敏度區域作為如下的區域來確定，在所述區域中可以可靠地測量測量參數，在此是翻轉角。其從測量方法或拍攝技術中構成固有的本身的局限，在B1映射方法中通常是如下事實，即，僅可以分辨在0°和180°之間的翻轉角，以及在其中呈現太高的不確定性，因而是太高的誤差值的區域。高的誤差值例如通過信號噪聲形成，從而例如在B1映射方法中使用的拍攝技術中由于信號噪聲而通常僅非常難以探測非常小的翻轉角。

因此例如公知，信號噪聲可以導致對非常小的翻轉角的系統的過高估計。

特別地對于具有多個局部發送器的系統，在待測量的對象上的B1變化典型地是非常大的。這意味著，使用的發射器電壓（通常在選擇靈敏度區域的情況下采用的參數）可以不一定選擇為使得關于待拍攝的對象產生的翻轉角位于B1映射方法的拍攝的靈敏度區域內部。

關于該問題，也就是當待拍攝的對象上的B1場分布的動態區域大于使用的B1映射方法的靈敏度區域時，公知兩個基本的解決方案。

一方面建議，降低待拍攝的B1場分布的動態區域。這一點可以通過不是測量各個通道的、因而是單線圈元件的場分布，而是測量不同的通道的（和由此線圈元件的）組合的場分布來實現。從對于所述發送通道組合的測量結果中必須唯一地計算各個通道的場分布，理想地具有與分別對于本身測量各個發送通道相比降低的噪聲靈敏度。也就是，由多個組合得到復數的反計算，該反計算按照本性是容易出錯的并且計算量大。此外可能需要的是，必須測量更大數量的單個B1場分布。

在另一種解決方案中建議，順序地在多個測量中覆蓋B1場分布的動態區域。這意味著，重復地利用不同的發射器電壓對于每個發送通道進行多個B1測量，