[發明專利]具有氮鎂共摻雜p型氧化鋅薄膜激光二極管的制造方法無效
| 申請號: | 201310067247.0 | 申請日: | 2013-03-01 | 
| 公開(公告)號: | CN103166114A | 公開(公告)日: | 2013-06-19 | 
| 發明(設計)人: | 錢時昌 | 申請(專利權)人: | 溧陽華晶電子材料有限公司 | 
| 主分類號: | H01S5/327 | 分類號: | H01S5/327 | 
| 代理公司: | 南京天翼專利代理有限責任公司 32112 | 代理人: | 蔣家華 | 
| 地址: | 213300 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 具有 氮鎂共 摻雜 氧化鋅 薄膜 激光二極管 制造 方法 | ||
技術領域
本發明屬于半導體領域,具體來說涉及一種具有氮鎂共摻雜p型氧化鋅薄膜激光二極管的制造方法。
背景技術
氧化鋅(ZnO)無論在晶格結構、晶胞參數還是在禁帶寬度上都與GaN相似,且具有比GaN更高的熔點和更大的激子束縛能,又具有較低的光致發光和受激輻射的閾值以及良好的機電耦合特性、熱穩定性和化學穩定性。因而在藍紫光發光二極管、激光器及其相關光電器件方面的應用有巨大的潛力。在室溫下,氧化鋅(ZnO)的禁帶寬度為3.37eV,自由激子結合能高達60meV,遠大于GaN的激子結合能25meV和室溫熱離化能26meV,因此更容易在室溫或更高溫度下實現激子增益。但是,ZnO走向光電器件應用的關鍵是實現穩定可靠且低阻的p型ZnO薄膜。ZnO由于存在諸多本征施主缺陷(如Zni,Vo等)和非故意摻雜的H等雜質,通常表現為n型。這些施主缺陷的存在能對摻入的受主雜質產生強烈的自補償效應,所以難以實現ZnO的P型摻雜。ZnO同質結紫外激射二極管需要做多層量子阱結構,而且所用p-ZnO遷移率較低、穩定性較差。發展結構簡單、成本低廉、光增益高的紫外激光二極管具有重要的應用價值。
目前,業內已有通過共摻雜的方式來得到p型氧化鋅薄膜的報道。例如,在氧化鋅中摻入鎂和銻來形成Mg-Sb共摻雜p型ZnO薄膜,其中鎂(Mg)作為ZnO的摻雜劑可以有效地增大ZnO的禁帶寬度,于是ZnO中的本征淺施主能級便會遠離導帶邊,從而增大了其電離能,減弱了ZnO的n型導電特性。但是由于ZnO中存在的本征淺施主缺陷的自補償作用,使得Sb很難被用來摻雜制備p型ZnO材料。
附圖說明
圖1是本發明提出制造方法所制得的激光二極管的結構示意圖;
發明內容:
本發明針對現有技術存在的問題,提出了一種具有氮鎂共摻雜p型氧化鋅薄膜的激光二極管的制造方法,依次包括如下步驟:
第一步,選取藍寶石作為襯底,將該襯底放置到具有無水乙醇的超聲波振蕩器中進行清洗,以去除襯底表面的油脂,然后再將其放置到具有去離子水的超聲波振蕩器中進行清洗,以去除殘余的無水乙醇;
第二步,將所述襯底放入磁控濺射反應室中,通過射頻磁控濺射工藝在所述襯底上形成300-600nm厚度的氧化鎳薄膜;
第三步,將純度為99.99%的氧化鋅粉末、鎂的摩爾含量為5-11%的氧化鎂粉末進行混合,然后壓制形成靶材;
第四步,將完成第一步工藝的襯底放入磁控濺射反應室中,向該磁控濺射反應室通入氮的摩爾含量為0.8-1.7%的NO、NO2混合氣體后施加射頻功率,該射頻功率使得NO和NO2氣體活化,并將靶材濺射沉積在襯底之上,從而在襯底上形成厚度為300-400nm的氮鎂共摻雜的p型ZnO晶體薄膜;
第五步,對完成第四步的襯底進行熱退火,退火氣氛為氧氣,退火溫度為700℃,退火時間為40分鐘,退火后自然冷卻;
第六步,在所述襯底的下表面上和所述氮鎂共摻雜的p型ZnO晶體薄膜的上表面上濺射電極材料,從而分別形成底電極和頂電極。
其中,所述氮鎂共摻雜p型氧化鋅薄膜中Mg的摩爾百分含量是5-11%,砷的摩爾百分含量是0.8-1.7%;并且,在常溫下,氮鎂共摻雜的p型ZnO晶體薄膜的壓電常數d33大于16pC/N,其電阻率大于2×1010Ω·cm。
具體實施方式:
下面通過具體實施方式對本發明進行詳細說明。
實施例1
參加圖1,一種具有氮鎂共摻雜p型氧化鋅薄膜的激光二極管的制造方法,依次包括如下步驟:
第一步,選取藍寶石作為襯底2,將該襯底2放置到具有無水乙醇的超聲波振蕩器中進行清洗,以去除襯底2表面的油脂,然后再將其放置到具有去離子水的超聲波振蕩器中進行清洗,以去除殘余的無水乙醇;
第二步,將所述襯底2放入磁控濺射反應室中,通過射頻磁控濺射工藝在所述襯底上形成300-600nm厚度的氧化鎳薄膜3;
第三步,將純度為99.99%的氧化鋅粉末、鎂的摩爾含量為5-11%的氧化鎂粉末進行混合,然后壓制形成靶材;
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