[發(fā)明專利]一種星載成像光譜儀在軌偏振測量系統(tǒng)

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310066833.3
• 申請日: 2013-03-04
• 公開（公告）號: CN103175612A
• 公開（公告）日: 2013-06-26
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 薛慶生;王淑榮
• 申請（專利權(quán)）人: 中國科學(xué)院長春光學(xué)精密機械與物理研究所
• 主分類號: G01J4/00
• 分類號: G01J4/00
• 代理公司: 長春菁華專利商標代理事務(wù)所 22210
• 代理人: 陶尊新

1.一種星載成像光譜儀在軌偏振測量系統(tǒng)，包括孔徑光闌（1）、望遠鏡（2）、入射狹縫（3）、準直鏡（4）、布儒斯特棱鏡（5）、聚焦鏡（6）、平面折轉(zhuǎn)鏡（7）和焦平面探測器（8）；其特征是，利用布儒斯特棱鏡（5）同時作為分光和偏振元件實現(xiàn)在星載成像光譜儀在軌偏振測量；

入射光束經(jīng)孔徑光闌（1）入射至望遠鏡（2）上，經(jīng)望遠鏡（2）成像在入射狹縫（3）上，入射光束經(jīng)入射狹縫（3）出射后入射至準直鏡（4），經(jīng)準直鏡（4）準直后變成平行準直光束入射至布儒斯特棱鏡（5）上，經(jīng)布儒斯特棱鏡（5）出射的色散偏振平行光束入射到聚焦鏡（6）上，經(jīng)聚焦鏡（6）聚焦再經(jīng)平面折轉(zhuǎn)鏡（7）折疊光路后聚焦到焦平面探測器（8）上，實現(xiàn)對光束的偏振測量。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種星載成像光譜儀在軌偏振測量系統(tǒng)，其特征在于，所述布儒斯特棱鏡（5）包括四個工作表面，準直光束入射至第一工作表面（a）上，經(jīng)第一工作表面（a）透射后入射到第二工作表面（b）上，準直光束中振動方向平行于入射狹縫（3）長度方向的S偏振光經(jīng)第二工作表面（b）反射后入射到第三工作表面（c）上，經(jīng)第三工作表面（c）反射后經(jīng)第四工作表面（d）出射，出射的色散偏振平行光束入射到聚焦鏡（6）上，經(jīng)聚焦鏡（6）聚焦再經(jīng)平面折轉(zhuǎn)鏡（7）折疊光路后聚焦到焦平面探測器（8）。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種星載成像光譜儀在軌偏振測量系統(tǒng)，其特征在于，所述布儒斯特棱鏡（5）第一工作表面（a）與第二工作表面（b）的夾角為布儒斯特棱鏡（5）的頂角，所述布儒斯特棱鏡（5）的頂角（α）的取值范圍為大于等于33°，小于等于37°。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種星載成像光譜儀在軌偏振測量系統(tǒng)，其特征在于，所述第一工作表面（a）為透射表面，第三工作表面c為反射表面，第四工作表面（d）為透射表面，第二工作表面（b）與第四工作表面（d）共面。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種星載成像光譜儀在軌偏振測量系統(tǒng)，其特征在于，所述準直鏡（4）與望遠鏡（2）為離軸拋物面鏡，準直鏡（4）的曲率半徑與望遠鏡（2）的曲率半徑相同，準直鏡（4）的離軸量與望遠鏡（2）的離軸量相同。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種星載成像光譜儀在軌偏振測量系統(tǒng)，其特征在于，所述焦平面探測器（8）為線陣列探測器，光譜的色散方向與線陣列探測器的線陣長度長向相同。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種星載成像光譜儀在軌偏振測量系統(tǒng)，其特征在于，所述孔徑光闌（1）位于望遠鏡（2）的物方焦平面上，在入射狹縫（3）上形成像方遠心。