[發(fā)明專利]一種磁懸浮分子泵徑向保護(hù)軸承檢測裝置及方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310066235.6 | 申請日: | 2013-03-01 |
| 公開(公告)號: | CN103196671A | 公開(公告)日: | 2013-07-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張剴;武涵;李奇志;張小章;鄒蒙 | 申請(專利權(quán))人: | 北京中科科儀股份有限公司;清華大學(xué) |
| 主分類號: | G01M13/04 | 分類號: | G01M13/04 |
| 代理公司: | 北京三聚陽光知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11250 | 代理人: | 寇海俠 |
| 地址: | 100190 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 磁懸浮 分子 徑向 保護(hù) 軸承 檢測 裝置 方法 | ||
1.一種磁懸浮分子泵徑向保護(hù)軸承檢測裝置,其特征在于,包括:
模擬轉(zhuǎn)子(20),由絕緣材料制備,裝入磁懸浮分子泵中,其轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí)能帶動(dòng)徑向保護(hù)軸承內(nèi)圈(21)轉(zhuǎn)動(dòng);
導(dǎo)電部件(22),與所述徑向保護(hù)軸承內(nèi)圈(21)連接;
電容表包括兩個(gè)接線端子,其中第一接線端子與所述導(dǎo)電部件(22)連接,第二接線端子與所述泵體(3)連接;所述電容表測量所述徑向保護(hù)軸承內(nèi)圈(21)與所述泵體(3)之間的電容值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁懸浮分子泵徑向保護(hù)軸承檢測裝置,其特征在于:
所述模擬轉(zhuǎn)子(20)為圓柱體,所述模擬轉(zhuǎn)子與所述徑向保護(hù)軸承內(nèi)圈(21)為過渡配合。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的磁懸浮分子泵徑向保護(hù)軸承檢測裝置,其特征在于:
所述模擬轉(zhuǎn)子為中空結(jié)構(gòu),且在所述模擬轉(zhuǎn)子上開設(shè)一通孔;
所述導(dǎo)電部件(22)一端與第一徑向保護(hù)軸承內(nèi)圈或第二徑向保護(hù)軸承內(nèi)圈連接,另一端連接導(dǎo)線,所述導(dǎo)線穿過所述通孔進(jìn)入中空結(jié)構(gòu)后延伸至所述圓柱體之外。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的磁懸浮分子泵徑向保護(hù)軸承檢測裝置,其特征在于:
所述模擬轉(zhuǎn)子為中空結(jié)構(gòu),且在所述模擬轉(zhuǎn)子上靠近兩個(gè)底面的兩端分別開設(shè)第一通孔和第二通孔;
所述導(dǎo)電部件(22)為兩個(gè),其中一個(gè)導(dǎo)電部件一端與第一徑向保護(hù)軸承內(nèi)圈連接,另一端連接導(dǎo)線,所述導(dǎo)線穿過第一通孔進(jìn)入中空結(jié)構(gòu)后延伸至所述模擬轉(zhuǎn)子之外;另一個(gè)導(dǎo)電部件一端與第二徑向保護(hù)軸承內(nèi)圈連接,另一端連接導(dǎo)線,所述導(dǎo)線穿過第二通孔進(jìn)入中空結(jié)構(gòu)后延伸至所述模擬轉(zhuǎn)子之外。
5.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的磁懸浮分子泵徑向保護(hù)軸承檢測裝置,其特征在于:
所述導(dǎo)電部件(22)通過固定件(23)固定于所述模擬轉(zhuǎn)子的內(nèi)壁上。
6.一種磁懸浮分子泵徑向保護(hù)軸承檢測方法,其特征在于,包括如下步驟:
S1.在磁懸浮分子泵出廠前,將轉(zhuǎn)子從磁懸浮分子泵中抽出,插入所述模擬轉(zhuǎn)子,電容表的一個(gè)接線端子通過導(dǎo)電部件(22)與所述徑向保護(hù)軸承內(nèi)圈(21)連接,另一個(gè)接線端子直接與泵體(3)連接;
S2.轉(zhuǎn)動(dòng)所述模擬轉(zhuǎn)子(20),帶動(dòng)徑向保護(hù)軸承內(nèi)圈相對于外圈轉(zhuǎn)動(dòng)數(shù)周,記錄所述電容表測量的所述徑向保護(hù)軸承內(nèi)圈與所述泵體(3)之間電容值的極大值Cmax或極小值Cmin作為基準(zhǔn)存儲于控制器(2)中的存儲介質(zhì)中;
S3.若所述磁懸浮分子泵在使用過程中,出現(xiàn)轉(zhuǎn)子失穩(wěn)跌落的情況,則在下一次控制所述轉(zhuǎn)子起浮之前,進(jìn)行如下檢測步驟:
S3-1.按照所述步驟S1的方式將所述模擬轉(zhuǎn)子、導(dǎo)電部件和電容表連接;
S3-2.轉(zhuǎn)動(dòng)所述模擬轉(zhuǎn)子,帶動(dòng)所述徑向保護(hù)軸承內(nèi)圈相對于外圈轉(zhuǎn)動(dòng)數(shù)周,記錄所述電容表測量的所述徑向保護(hù)軸承內(nèi)圈與所述泵體(3)之間電容值的極大值C,max/極小值C,min;
S3-3.獲取所述極大值C,max與所述基準(zhǔn)極大值Cmax的極大值的比例關(guān)系C1=C,max/Cmax;或者所述極小值C,min與所述基準(zhǔn)極小值Cmin的極小值的比例關(guān)系C2=C,min/Cmin;若所述極大值的比例關(guān)系C1或所述極小值的比例關(guān)系C2超出閾值,則判定所述徑向保護(hù)軸承失效;否則所述徑向保護(hù)軸承有效。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的磁懸浮分子泵徑向保護(hù)軸承的測方法,其特征在于:所述步驟S3-2中,所述閾值為1.4。
8.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的磁懸浮分子泵徑向保護(hù)軸承的檢測方法,其特征在于:
所述步驟S3-1之前,還包括如下步驟:
S301:記錄所述徑向保護(hù)軸承的可承受失穩(wěn)跌落次數(shù);
S302:記錄磁懸浮分子泵運(yùn)行過程中所述轉(zhuǎn)子失穩(wěn)跌落的次數(shù);
S303:比較所述轉(zhuǎn)子失穩(wěn)跌落的次數(shù)是否小于可承受失穩(wěn)跌落次數(shù),若所述轉(zhuǎn)子失穩(wěn)跌落的次數(shù)小于所述的可承受失穩(wěn)跌落次數(shù)則進(jìn)入所述步驟S3-1;否則直接判定所述徑向保護(hù)軸承失效。
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