[發明專利]顯示面板的測試結構及其測試方法與測試后的測試結構

有效

• 申請號: 201310065373.2
• 申請日: 2013-02-08
• 公開（公告）號: CN103531138A
• 公開（公告）日: 2014-01-22
• 發明（設計）人: 吳淇銘;閻淑萍
• 申請（專利權）人: 元太科技工業股份有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;H01L21/66
• 代理公司: 北京中原華和知識產權代理有限責任公司 11019
• 代理人: 壽寧;張華輝

1.一種顯示面板的測試結構，其特征在于該顯示面板具有一顯示區、一非顯示區以及一位于該顯示區與該非顯示區之間的緩沖顯示區，且該測試結構位于該顯示面板的該緩沖顯示區內，該測試結構包括：

一基板；

至少一信號線，配置于該基板上；

一絕緣層，覆蓋該信號線；

一平坦層，配置于該絕緣層上，且具有至少一開口，其中該開口暴露出部分該絕緣層；以及

一電極層，配置于該平坦層上，且具有一顯示電極部、至少一測試電極部以及一類環狀開口，其中該類環狀開口圍繞該測試電極部且暴露出部分該平坦層，該測試電極部通過該平坦層的該開口與該絕緣層相連接，該顯示電極部位于該平坦層上且環繞該類環狀開口并連接至該測試電極部。

2.如權利要求1所述的顯示面板的測試結構，其特征在于其中該顯示面板包括一電泳顯示面板。

3.如權利要求1所述的顯示面板的測試結構，其特征在于其中該類環狀開口具有彼此相對的一第一端與一第二端，且該第一端與該第二端相隔一間距，該顯示電極部延伸至該間距內且與該測試電極部電性連接。

4.如權利要求1所述的顯示面板的測試結構，其特征在于其中該顯示電極部與該測試電極部的連接處于該基板上的正投影與該信號線在該基板上的正投影不重疊。

5.一種顯示面板的測試結構的測試方法，其特征在于包括：

提供一顯示面板，該顯示面板具有一顯示區、一非顯示區、一位于該顯示區與該非顯示區之間的緩沖顯示區以及至少一位于該緩沖顯示區內的測試結構，其中該測試結構包括：

一基板；

至少一信號線，配置于該基板上；

一絕緣層，覆蓋該信號線；

一平坦層，配置于該絕緣層上，且具有至少一開口，其中該開口暴露出部分該絕緣層；以及

一電極層，配置于該平坦層上，且具有一顯示電極部、至少一測試電極部以及一類環狀開口，其中該類環狀開口圍繞該測試電極部且暴露出部分該平坦層，該測試電極部通過該平坦層的該開口與該絕緣層相連接，該顯示電極部位于該平坦層上且環繞該類環狀開口并連接至該測試電極部；

對該顯示電極部與該測試電極部的連接處進行一切割步驟，以使該類環狀開口形成一環狀通口，其中該測試電極部與該顯示電極部通過該環狀通口彼此不相連且電性絕緣；

對與該顯示電極部電性絕緣的該測試電極部進行一熔接步驟，以使該測試電極部與該信號線電性連接；以及

對該信號線輸入一測試信號，并且從與該信號線電性連接的該測試電極部量測一輸出信號。

6.如權利要求5所述的顯示面板的測試結構的測試方法，其特征在于其中該切割步驟包括一激光切斷步驟。

7.如權利要求5所述的顯示面板的測試結構的測試方法，其特征在于其中該熔接步驟包括一激光熔接步驟。

8.如權利要求5所述的顯示面板的測試結構的測試方法，其特征在于其中該顯示面板包括一電泳顯示面板。

9.如權利要求5所述的顯示面板的測試結構的測試方法，其特征在于其中該顯示電極部與該測試電極部的連接處于該基板上的正投影與該信號線于該基板上的正投影不重疊。

10.一種測試后的顯示面板的測試結構，其特征在于該顯示面板具有一顯示區、一非顯示區以及一位于該顯示區與該非顯示區之間的緩沖顯示區，其中該測試結構位于該顯示面板的該緩沖顯示區內，該測試結構包括：

一基板；

至少一信號線，配置于該基板上；

一絕緣層，覆蓋該信號線；

一平坦層，配置于該絕緣層上，且具有至少一開口，其中該開口暴露出部分該絕緣層；以及

一電極層，配置于該平坦層上，且具有一顯示電極部、至少一測試電極部、一環狀通口以及一導電通道，其中該環狀通口圍繞該測試電極部且暴露出部分該平坦層，該測試電極部通過該平坦層的該開口與該絕緣層相連接，該導電通道從該測試電極部延伸至該信號線，且該測試電極部通過該導電通道與該信號線電性連接，而該顯示電極部位于該平坦層上且環繞該環狀通口，該顯示電極部與該測試電極部電性絕緣。

11.如權利要求10所述的測試后的顯示面板的測試結構，其特征在于其中該顯示面板包括一電泳顯示面板。