[發明專利]占空比檢測器及占空比校正系統

有效

• 申請號: 201310064938.5
• 申請日: 2013-03-01
• 公開（公告）號: CN103312299A
• 公開（公告）日: 2013-09-18
• 發明（設計）人: 吳宜璋;艾麗爾沙·席凡妮-馬哈達維
• 申請（專利權）人: 聯發科技（新加坡）私人有限公司
• 主分類號: H03K3/017
• 分類號: H03K3/017
• 代理公司: 北京萬慧達知識產權代理有限公司 11111
• 代理人: 于淼;楊穎

技術領域

本發明是有關于一種電子電路的信號校正，特別是有關于信號的占空比的檢測和校正。

背景技術

在現代電路中，對于準確時間電路、采樣數據以及執行其他功能通常需要精確的信號。隨著電子裝置的運行速度增加和性能的提升，需要準確的高頻時鐘以及數據信號。舉例來說，時鐘信號的上升沿及/或下降沿需要和數據信號準確地對準以允許準確地采樣數據。

為保證更加準確的信號，可以在信號上執行校正以適當對準信號邊緣并將占空比調整到希望的占空比。然而，許多現有的占空比校正系統所允許校正的準確度或程度受到限制，并且在不同應用中適應性不強。

發明內容

有鑒于此，本發明提出一種占空比檢測器及占空比校正系統。

依據本發明第一實施方式，提供一種占空比校正系統。該占空比校正系統包括第一調諧電路，用于接收輸入信號，調諧該輸入信號的占空比至第一誤差范圍內，并且提供第一輸出信號；第二調諧電路，用于接收該第一輸出信號，調諧該第一輸出信號的占空比至第二誤差范圍內，并且提供第二輸出信號，其中該第二誤差范圍比該第一誤差范圍更精確；占空比檢測器，用于接收該第二輸出信號，并且輸出指示該第二輸出信號的占空比的占空比檢測信號；以及邏輯單元，用于基于該占空比檢測信號，控制該第一調諧電路和該第二調諧電路。

依據本發明第二實施方式，提供一種占空比校正系統。該占空比校正系統包括粗調諧電路，用于接收輸入信號，調諧該輸入信號的占空比接近目標占空比，并且輸出已調諧的輸出信號，其中該已調諧的輸出信號是基于該輸入信號和相對該輸入信號有延遲的延遲信號的組合；占空比檢測器，用于接收該已調諧的輸出信號并且輸出指示該已調諧的輸出信號的占空比的占空比檢測信號；以及邏輯單元，用于基于該占空比檢測信號，控制該粗調調諧電路。

依據本發明第三實施方式，提供一種占空比校正系統。該占空比校正系統包括微調諧電路，用于接收輸入信號，調諧該輸入信號的占空比接近目標占空比，并且輸出已調諧的輸出信號，其中該輸入信號的占空比的調諧包括改變該微調諧電路中的阻抗而改變該已調諧的輸出信號的上升沿或下降沿；占空比檢測器，用于接收該已調諧的輸出信號，并且輸出指示該已調諧的輸出信號的占空比的占空比檢測信號；以及邏輯單元，用于基于該占空比檢測信號，控制該微調諧電路。

依據本發明第四實施方式，提供一種占空比檢測器。該占空比檢測器包括電容，具有第一終端和第二終端；多個開關，耦接于該電容，其中該多個開關響應輸入信號而接通或斷開以使得該第一終端和該第二終端充電和放電；以及比較器，耦接于該第一終端和該第二終端并且用于輸出該輸入信號的占空比的信號指示。

本發明所提出的占空比檢測器及占空比校正系統，可使信號的占空比的校正準確和適應性強。

附圖說明

圖1為根據本發明實施方式的占空比校正系統的方框圖。

圖2為根據本發明實施方式的使用粗調諧電路和微調諧電路校正信號的占空比的方法的流程圖。

圖3A為根據本發明實施方式的粗調諧電路的示意圖。

圖3B為根據圖3A所示的粗調諧電路操作中減小輸入信號的占空比的信號的時序圖。

圖3C為根據本發明實施方式的粗調諧電路示意圖。

圖3D為根據圖3C所示的粗調諧電路操作中增加輸入信號的占空比的信號的時序圖。

圖4為根據本發明實施方式的使用粗調諧電路來校正信號的占空比的方法的流程圖。

圖5A為根據本發明實施方式的微調諧電路的示意圖。

圖5B為根據圖5A所示的微調諧電路操作中減小輸入信號的占空比的信號的時序圖。

圖5C為根據圖5A所示的微調諧電路操作中增加輸入信號的占空比的信號的時序圖。

圖6為根據本發明實施方式的使用微調諧電路來校正信號的占空比的方法的流程圖。

圖7為根據本發明實施方式的包括多工器的誤差補償的粗調諧電路的示意圖。

圖8為根據本發明實施方式的包括輸入信號旁通的粗調諧電路的示意圖。

圖9A為根據本發明另一個實施方式的粗調諧電路的示意圖。

圖9B為根據圖9A所示的粗調諧電路操作中減小輸入信號的占空比的信號的時序圖。

圖9C為根據圖9A所示的粗調諧電路操作中增加輸入信號的占空比的信號的時序圖。

圖10A為根據本發明另一個實施方式的微調諧電路的示意圖。