[發(fā)明專利]靜態(tài)存儲(chǔ)單元及其形成方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310064755.3 | 申請(qǐng)日: | 2013-02-28 |
| 公開(公告)號(hào): | CN104022116B | 公開(公告)日: | 2017-08-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 洪中山 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中芯國(guó)際集成電路制造(上海)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L27/11 | 分類號(hào): | H01L27/11;H01L21/8244 |
| 代理公司: | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司11227 | 代理人: | 駱蘇華 |
| 地址: | 201203 *** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 靜態(tài) 存儲(chǔ) 單元 及其 形成 方法 | ||
1.一種靜態(tài)存儲(chǔ)單元的形成方法,其特征在于,包括:
提供半導(dǎo)體襯底,所述半導(dǎo)體襯底包括用于形成下拉晶體管的第一區(qū)域和用于形成上拉晶體管的第二區(qū)域;
形成位于所述第一區(qū)域的半導(dǎo)體襯底表面的第一鰭部,形成位于所述第二區(qū)域的半導(dǎo)體表面的第二鰭部,其中,所述第二鰭部頂部形成有絕緣層;
形成覆蓋所述第一鰭部和第二鰭部之外的半導(dǎo)體襯底表面的層間介質(zhì)層,所述層間介質(zhì)層表面低于所述第一鰭部和第二鰭部頂部表面;
形成位于所述層間介質(zhì)層表面、且橫跨單個(gè)所述第一鰭部的頂部和側(cè)壁的第一柵極結(jié)構(gòu),形成位于所述層間介質(zhì)層表面、且橫跨單個(gè)所述第二鰭部的頂部和側(cè)壁的第二柵極結(jié)構(gòu),所述第二柵極結(jié)構(gòu)與第二鰭部的頂部通過絕緣層相隔離;
所述第一鰭部和第二鰭部之間的高度比為0.8:1-2:1;
當(dāng)所述第一鰭部和第二鰭部之間的高度比大于等于0.8:1,小于1:1時(shí),所述第一鰭部的寬度大于所述第二鰭部高度的0.4倍;
所述層間介質(zhì)層和絕緣層之間的刻蝕選擇比大于1:1;
所述第一鰭部和第二鰭部的形成步驟還包括:首先形成覆蓋所述第二區(qū)域的保護(hù)層,所述保護(hù)層不僅覆蓋第二區(qū)域的層間介質(zhì)層,還覆蓋第二區(qū)域的絕緣層;以所述保護(hù)層為掩膜,去除第一區(qū)域的絕緣層和部分厚度的層間介質(zhì)層,直至暴露出第一區(qū)域的鰭結(jié)構(gòu);去除所述保護(hù)層,暴露出第二區(qū)域的層間介質(zhì)層和絕緣層;以所述第二區(qū)域的絕緣層為掩膜,刻蝕部分厚度的層間介質(zhì)層以及第一區(qū)域中部分厚度的鰭結(jié)構(gòu),形成第一鰭部,所述第二區(qū)域的鰭結(jié)構(gòu)為第二鰭部。
2.一種靜態(tài)存儲(chǔ)單元的形成方法,其特征在于,包括:
提供半導(dǎo)體襯底,所述半導(dǎo)體襯底包括用于形成下拉晶體管的第一區(qū)域和用于形成上拉晶體管的第二區(qū)域;
形成位于所述第一區(qū)域的半導(dǎo)體襯底表面的第一鰭部,形成位于所述第二區(qū)域的半導(dǎo)體表面的第二鰭部,其中,所述第二鰭部頂部形成有絕緣層;
形成覆蓋所述第一鰭部和第二鰭部之外的半導(dǎo)體襯底表面的層間介質(zhì)層,所述層間介質(zhì)層表面低于所述第一鰭部和第二鰭部頂部表面;
形成位于所述層間介質(zhì)層表面、且橫跨單個(gè)所述第一鰭部的頂部和側(cè)壁的第一柵極結(jié)構(gòu),形成位于所述層間介質(zhì)層表面、且橫跨單個(gè)所述第二鰭部的頂部和側(cè)壁的第二柵極結(jié)構(gòu),所述第二柵極結(jié)構(gòu)與第二鰭部的頂部通過絕緣層相隔離;
所述第一鰭部和第二鰭部之間的高度比為0.8:1-2:1;
當(dāng)所述第一鰭部和第二鰭部之間的高度比大于等于0.8:1,小于1:1時(shí),所述第一鰭部的寬度大于所述第二鰭部高度的0.4倍;
所述層間介質(zhì)層和絕緣層之間的刻蝕選擇比大于1:1;
所述第一鰭部和第二鰭部的形成步驟還包括:首先去除部分厚度的層間介質(zhì)層,此時(shí)第一區(qū)域和第二區(qū)域的鰭結(jié)構(gòu)表面還形成有絕緣層;去除部分厚度的層間介質(zhì)層后,再形成覆蓋所述第二區(qū)域的層間介質(zhì)層和絕緣層的保護(hù)層;以所述保護(hù)層為掩膜去除所述第一區(qū)域的絕緣層,暴露出第一區(qū)域的鰭結(jié)構(gòu);之后再去除所述保護(hù)層,暴露出第二區(qū)域的層間介質(zhì)層和絕緣層;以所述第二區(qū)域的絕緣層為掩膜,刻蝕部分厚度的層間介質(zhì)層以及第一區(qū)域中部分厚度的鰭結(jié)構(gòu),形成第一鰭部,所述第二區(qū)域的鰭結(jié)構(gòu)為第二鰭部。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中芯國(guó)際集成電路制造(上海)有限公司,未經(jīng)中芯國(guó)際集成電路制造(上海)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310064755.3/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或者表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的
- 復(fù)雜背景中實(shí)現(xiàn)靜態(tài)目標(biāo)檢測(cè)和識(shí)別的方法
- 一種設(shè)置靜態(tài)認(rèn)證信息的方法及裝置
- 一種基于物聯(lián)網(wǎng)技術(shù)的機(jī)房靜態(tài)資源快速定位的方法
- 一種動(dòng)態(tài)網(wǎng)頁靜態(tài)化的方法和裝置
- 瀏覽器靜態(tài)資源加載方法、瀏覽器程序及可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 靜態(tài)資源更新方法、裝置、存儲(chǔ)介質(zhì)和計(jì)算機(jī)設(shè)備
- 一種圖像顯示方法及裝置
- 一種靜態(tài)方法修改非靜態(tài)對(duì)象的方法
- 一種靜態(tài)資源加載方法、裝置、設(shè)備及可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種靜態(tài)資源獲取方法、裝置及其相關(guān)設(shè)備
- 動(dòng)態(tài)存儲(chǔ)管理裝置及方法
- 一種存儲(chǔ)方法、服務(wù)器及存儲(chǔ)控制器
- 一種基于存儲(chǔ)系統(tǒng)的控制方法及裝置
- 一種信息的存儲(chǔ)控制方法
- 一種數(shù)據(jù)存儲(chǔ)方法及裝置
- 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備以及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種數(shù)據(jù)存儲(chǔ)控制方法及裝置
- 存儲(chǔ)設(shè)備、存儲(chǔ)系統(tǒng)及存儲(chǔ)方法
- 物料存儲(chǔ)方法及系統(tǒng)
- 基于雙芯智能電表的數(shù)據(jù)分類存儲(chǔ)方法和裝置





