[發明專利]射線實時成像中缺陷檢測方法

無效

• 申請號: 201310063451.5
• 申請日: 2013-02-28
• 公開（公告）號: CN103149222A
• 公開（公告）日: 2013-06-12
• 發明（設計）人: 沈寬
• 申請（專利權）人: 重慶大學
• 主分類號: G01N23/00
• 分類號: G01N23/00;G06T5/00
• 代理公司: 北京同恒源知識產權代理有限公司 11275
• 代理人: 趙榮之

1.??射線實時成像中缺陷檢測方法，其特征在于：包括以下步驟：

S1：根據被檢對象的類型、品種建立被檢測對象的標準射線圖像數據庫；

S2：獲取被測對象的現場射線圖像；

S3：增強現場射線圖像，獲得增強后的增強射線圖像；

S4：從標準射線圖像數據庫中選擇與現場射線圖像同類型、同品種的標準射線圖像；

S5：對增強射線圖像和標準射線圖像進行配準，以獲得從對增強后的射線圖像變換到標準射線圖像的空間變換系數；

S6：將增強射線圖像變換到標準射線圖像空間，然后對二者進行差影操作，去除背景，對差影結果進行缺陷提取；

S7：根據檢測射線成像先驗知識，對缺陷檢測結果進行精化，得到缺陷目標，計算各個缺陷目標的檢測參數，所述檢測參數包括大小、位置和占空比。

2.根據權利要求1所述的射線實時成像中缺陷檢測方法，其特征在于：所述S1中按如下方式執行：

對指定型號、類型的工件選取多件，分別進行DR檢測，對檢測圖像進行增強并取其中缺陷最小的一副圖像作為基準圖，對該圖中存在缺陷的部分使用其他工件相同部位無缺陷的圖像區域進行替代；或者對有缺陷的部位根據工件的結構特征進行人工像素灰度賦值。

3.根據權利要求1所述的射線實時成像中缺陷檢測方法，其特征在于：所述S5中按如下方式執行：

在對增強射線圖像和標準射線圖像進行配準時，對被測對象只選取該工件DR圖像中被測對象外輪廓特征點進行匹配。

4.?根據權利要求1所述的一種射線實時成像中缺陷檢測方法，其特征在于：所述步驟S6還包括以下步驟：

S61：對步驟S6中產生的差影圖像先進行局部二值化處理，然后進行邊緣檢測和連接并提取缺陷位置；

S62：去除被測對象的偽缺陷和單點缺陷；

S63：去除差影圖像產生的偽缺陷；

S64：根據檢測標準去除小于檢測閾值的缺陷；

S65：計算缺陷所在位置和大小，給出缺陷檢測結果；

S66：結合射線檢測系統的控制參數，可計算出缺陷所在被測對象的實際位置。

5.??根據權利要求1所述的射線實時成像中缺陷檢測方法，其特征在于：所述被測對象外輪廓采用直接定位方法；所述直接定位法用于基于控制參數來進行整個被檢測對象的高度、長度、夾具的尺寸和位置，從而，計算出工件在圖像中的大致位置。

6.??根據權利要求1所述的射線實時成像中缺陷檢測方法，其特征在于：所述被測對象外輪廓采用基于輪廓提取的方法，所述基于輪廓提取的方法是先對被測對象進行輪廓提取并獲取輪廓數據，再根據提取的輪廓數據確定區域。

7.??根據權利要求6所述的射線實時成像中缺陷檢測方法，其特征在于：所述輪廓數據為確定根據外輪廓線內縮5~10個像素的區域。