[發(fā)明專利]一種新型硅基低阻電感結(jié)構(gòu)及其晶圓級(jí)封裝方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310062901.9 | 申請(qǐng)日: | 2013-02-28 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103165571A | 公開(kāi)(公告)日: | 2013-06-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 郭洪巖;張黎;陳錦輝;賴志明 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 江陰長(zhǎng)電先進(jìn)封裝有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L23/522 | 分類號(hào): | H01L23/522;H01L21/768 |
| 代理公司: | 南京經(jīng)緯專利商標(biāo)代理有限公司 32200 | 代理人: | 王斌 |
| 地址: | 214429 江蘇省無(wú)錫市江*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 新型 硅基低阻 電感 結(jié)構(gòu) 及其 晶圓級(jí) 封裝 方法 | ||
1.一種新型硅基低阻電感結(jié)構(gòu),包括硅基本體(101),其特征在于:所述硅基本體(101)上設(shè)有下凹的線圈槽(102),所述線圈槽(102)的底部、側(cè)壁和硅基本體(101)的上表面涂覆絕緣層(200),所述線圈槽(102)內(nèi)部的絕緣層(200)上設(shè)置電鍍種子層(300),設(shè)置電鍍種子層(300)的線圈槽(102)內(nèi)設(shè)置金屬布線層(400),所述金屬布線層(400)上表面和裸露的絕緣層(200)上涂覆再鈍化層(500),并在金屬布線層(400)的上表面形成再鈍化層開(kāi)口(501),所述再鈍化層(500)上設(shè)置金屬引線(600),所述金屬引線(600)的一端填充再鈍化層開(kāi)口(501),另一端沿再鈍化層(500)向電感外圍延伸。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種新型硅基低阻電感結(jié)構(gòu),其特征在于:所述線圈槽(102)呈螺旋狀分布。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種新型硅基低阻電感結(jié)構(gòu),其特征在于:所述線圈槽(102)的側(cè)壁傾角為α、側(cè)壁的上沿傾角為β,α≧β。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種新型硅基低阻電感結(jié)構(gòu),其特征在于:所述線圈槽(102)的側(cè)壁傾角α取值范圍:80°≦α≦90°,側(cè)壁上沿傾角β取值范圍:50°≦α≦70°。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的一種新型硅基低阻電感結(jié)構(gòu),其特征在于:所述金屬布線層(400)填充整個(gè)線圈槽(102)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種新型硅基低阻電感結(jié)構(gòu),其特征在于:所述金屬布線層(400)的上表面不高于硅基本體(101)的上表面,且金屬布線層(400)的厚度不小于30微米。
7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種新型硅基低阻電感結(jié)構(gòu),其特征在于:所述金屬布線層(400)的上表面不高于硅基本體(101)的上表面,且金屬布線層(400)的厚度不小于30微米。
8.根據(jù)權(quán)利要求1或6或7所述的一種新型硅基低阻電感結(jié)構(gòu),其特征在于:所述金屬引線(600)與金屬布線層(400)相連。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種新型硅基低阻電感結(jié)構(gòu),其特征在于:所述電鍍種子層(300)為單層金屬或多層金屬。
10.一種新型硅基低阻電感的晶圓級(jí)制作方法,其包括以下工藝過(guò)程:
步驟一、取硅晶圓(100),并在硅晶圓(100)上表面涂覆光刻膠(110);
步驟二、通過(guò)曝光、顯影等工藝在硅晶圓(100)上形成光刻膠開(kāi)窗圖形(111);
步驟三、通過(guò)反應(yīng)離子刻蝕方法將光刻膠開(kāi)窗圖形(111)處對(duì)應(yīng)的硅刻蝕掉,通過(guò)控制刻蝕工藝控制其截面形狀,形成線圈槽(102);
步驟四、去除光刻膠(110)并清洗硅晶圓(100);
步驟五、通過(guò)電沉積的方法在硅晶圓(100)上表面、線圈槽(102)底部和側(cè)壁沉積一層有機(jī)材料的絕緣層(200);
步驟六、通過(guò)濺射或者PVD等其他物理沉積方式在絕緣層(200)表面沉積電鍍種子層(300);
步驟七、再次通過(guò)電沉積的方法在上述電鍍種子層(300)表面沉積負(fù)性光刻膠(310);
步驟八、通過(guò)曝光顯影的方式將上述線圈槽(102)內(nèi)部的負(fù)性光刻膠(310)去除,并采用濕法和干法的形式清洗線圈槽(102)內(nèi)部,確保無(wú)負(fù)性光刻膠(310)殘留及其他污染物附著;
步驟九、采用電鍍方式在線圈槽(102)內(nèi)沉積材質(zhì)為銅的一定厚度的金屬布線層(400);
步驟十、去除剩余的負(fù)性光刻膠(310),并將線圈槽(102)外部的電鍍種子層(300)腐蝕掉,露出硅晶圓(100)上表面的絕緣層(200);
步驟十一、在上述絕緣層(200)和金屬布線層(400)上表面通過(guò)涂覆、曝光、顯影方法制作再鈍化層(500)及其再鈍化層開(kāi)口(501);
步驟十二、依次通過(guò)濺射、光刻、電鍍方法在再鈍化層(500)上形成金屬引線(600);
步驟十三、通過(guò)切割形成單顆結(jié)構(gòu)的新型硅基低阻螺旋電感。
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