[發(fā)明專利]一種有機質腐殖化水平的綜合評價方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310060961.7 | 申請日: | 2013-02-27 |
| 公開(公告)號: | CN103163112A | 公開(公告)日: | 2013-06-19 |
| 發(fā)明(設計)人: | 何小松;席北斗;李翔;潘紅衛(wèi);李丹 | 申請(專利權)人: | 中國環(huán)境科學研究院 |
| 主分類號: | G01N21/64 | 分類號: | G01N21/64 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 周長興 |
| 地址: | 100012 北*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 有機質 腐殖 水平 綜合 評價 方法 | ||
1.一種有機質腐殖化水平的綜合評價方法,其主要步驟為:
A)采集樣品,提取制備水溶性有機物,測定其有機碳含量(DOC);
B)進行三維熒光光譜測定,并計算有機質的腐殖化值;
C)腐殖化值的歸一化處理;
D)建立投影尋蹤模型;
E)模型求解;
F)有機質腐殖化水平的綜合評價。
2.根據(jù)權利要求1所述的綜合評價方法,其中,步驟B中先調(diào)整樣品0<DOC<10mg·L-1,然后進行三維熒光光譜測定和計算有機質的腐殖化值。
3.根據(jù)權利要求1或2所述的綜合評價方法,其中,步驟B中的測定和計算如下:
第一類指標A4/A1:固定激發(fā)波長254nm,掃描260-550nm范圍內(nèi)的發(fā)射光譜,計算發(fā)射光譜435-480nm與300-345nm范圍內(nèi)熒光積分面積的比值;
第二類腐殖化指標I347/280與I378/280:固定波長差為30nm掃描250-595nm范圍內(nèi)的同步熒光光譜,計算同步熒光光譜中347nm與280nm處的熒光強度比值I347/280,以及378nm與280nm處熒光強度比值I378/280;
第三類腐殖化指標A465:固定激發(fā)波長465nm,掃描490-595nm范圍內(nèi)的發(fā)射光譜,計算發(fā)射光譜中490-595nm范圍內(nèi)熒光積分面積。
4.根據(jù)權利1要求所述的綜合評價方法,其中,步驟C中腐殖化值的歸一化處理公式是y′(i,j)=y(tǒng)(i,j)/ymax(j),
式中:y′(i,j)為第j類指標中第i個指標y(i,j)歸一化后的值,ymax(j)為第j類指標中最大值。
5.根據(jù)權要求1所述的綜合評價方法,其中,步驟D中投影尋蹤模型的建立是:
建立目標函數(shù):
Max:Q(a)=SzDz;
函數(shù)的約束條件為
式中:Sz為投影值z(i)的標準差;Dz為投影值z(i)的局部密度。
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