[發明專利]電子設備和繪制方法無效
| 申請號: | 201310057950.3 | 申請日: | 2013-02-25 |
| 公開(公告)號: | CN103793080A | 公開(公告)日: | 2014-05-14 |
| 發明(設計)人: | 藤井哲也 | 申請(專利權)人: | 株式會社東芝 |
| 主分類號: | G06F3/0354 | 分類號: | G06F3/0354 |
| 代理公司: | 上海市華誠律師事務所 31210 | 代理人: | 彭里 |
| 地址: | 日本東京都*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電子設備 繪制 方法 | ||
相關申請的交叉引用
這個申請基于并要求2012年10月31日提交的第2012-240991號日本專利申請的優先權的權益,通過引用將其全部內容結合在這里。
技術領域
在此描述的實施例大體涉及在屏幕上的筆輸入。
背景技術
使用感應筆的數字轉換器被廣泛地使用。通過在LCD的顯示屏的四個角中顯示+標記,以及要求用戶輕拍每個+標記的中心,來進行當前的位置校正(校準)方法。在使用上述方法中,用戶經常握住筆,以使筆盡可能地垂直于顯示屏,以便準確地將筆尖放在+標記上,并且從正上方進行操作。
在通過使用上述方法進行的位置校正中,與用戶實際上寫下圖形或者字符的狀態不同,當用戶以傾斜狀態握住筆時,實際上顯示線的位置從用戶預期的線的位置偏移。因此,用戶感覺難以繪制圖形和字符。
在該現有技術中,有實際上顯示的線的位置從用戶預期的線的位置偏移、并且用戶感覺難以繪制圖形和字符的情況。
發明內容
本發明的目的是提供一種可以抑制用戶預期的線的位置和實際上顯示在屏幕上的線的位置之間的偏移的電子設備和繪制方法。
通常,根據一個實施例,電子設備包括顯示器、校正部和繪制模塊。顯示器被配置為能夠檢測第一接觸的位置和第二接觸的位置,在所述第一接觸的位置中,與物體的接觸面積等于或者小于第一閾值,在所述第二接觸的位置中,與物體的接觸面積等于或者大于第二閾值,所述第二閾值等于或者大于所述第一閾值。校正部被配置為校正感測到所述第一接觸的位置。繪制模塊被配置為繪制由所述校正模塊校正的位置的軌跡、和所述第一接觸的所述位置的軌跡中的至少一個。校正部被配置為,通過使用是否感測到所述第二接觸、以及所述第一接觸和所述第二接觸之間的位置關系中的至少一個,來校正感測到所述第一接觸的所述位置。
根據上述結構的繪制方法,能夠抑制用戶預期的線的位置和線實際上在屏幕上顯示的位置之間的偏移。
附圖說明
現在將參考附圖描述實現實施例的各種特征的大體的結構。提供附圖和相關的描述是為了說明本發明的實施例,而不是為了限制本發明的范圍。
圖1是根據實施例的電子設備的外觀的立體圖。
圖2是圖解實施例的電子設備的系統結構的示范性的方框圖。
圖3是圖解數字筆記本應用程序的功能結構的示范性的方框圖。
圖4是用于說明視差的示范性的示意圖。
圖5是用于說明偏移的示范性的示意圖。
圖6是圖解用于校準的圖形的示范性的圖。
圖7是用于說明筆的傾斜度的示范性的示意圖。
圖8是圖解用于校準的圖形的示范性的圖。
圖9是圖解用于校準的圖形的示范性的圖。
圖10是圖解用于校準的圖形的示范性的圖。
圖11是圖解握住筆的手觸摸屏幕的情況、和握住筆的手沒有觸摸屏幕的情況的示范性的圖。
圖12是圖解由校正處理部進行的處理的過程的示范性的圖。
具體實施方式
以下將參考附圖說明各種實施例。
圖1是根據實施例的平板電腦10的外觀的立體圖。該平板電腦10是被稱為平板或者直板電腦的便攜式電子設備,并且包括主體11和觸摸屏顯示器17,如圖1中圖解的。該觸摸屏顯示器17附接于主體11,以使得觸摸屏顯示器17被重疊在主體11的上表面上。
主體11包含殼體,該殼體具有薄盒形狀。該觸摸屏顯示器17包含平板顯示器和傳感器,該傳感器被配置為感測筆或者手指在平板顯示器的屏幕上觸摸的位置。該平板顯示器例如可以是液晶顯示裝置(LCD)。例如,電容式的接觸式傳感器裝置或者感應的數字轉換器可以被用作傳感器。在以下的實例中,假定作為數字轉換器和接觸式傳感器裝置的兩個傳感器兩者都被結合在觸摸屏顯示器17中。只要可以感測筆和觸摸屏顯示器17之間的接觸,任何傳感器都可以被用作對應于該數字轉換器的傳感器。對應于該數字轉換器的傳感器可以感測第一接觸的位置,在該第一接觸的位置中,與物體的接觸面積等于或者小于第一閾值。只要可以感測物體(諸如人的手或者手指)和觸摸屏顯示器17之間的接觸,任何傳感器都可以被用作對應于接觸式傳感器裝置的傳感器。對應于該接觸式傳感器裝置的傳感器可以感測第二接觸的位置,在該第二接觸的位置中,與物體的接觸面積等于或者大于第二閾值,第二閾值等于或者大于第一閾值。例如,在可以以電容式的方法來感測多個觸摸的情況下,當感測到多個相鄰點中的觸摸時,檢測的點可以被感測為第二接觸位置。
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