[發(fā)明專利]光學裝置及其運作方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310057616.8
• 申請日: 2013-02-25
• 公開（公告）號: CN103284684A
• 公開（公告）日: 2013-09-11
• 發(fā)明（設計）人: 顏孟新;王威;周忠誠;林俊男
• 申請（專利權(quán)）人: 明達醫(yī)學科技股份有限公司
• 主分類號: A61B3/10
• 分類號: A61B3/10;A61B3/14
• 代理公司: 中國商標專利事務所有限公司 11234
• 代理人: 宋義興;周偉明

技術(shù)領域

本發(fā)明是與光學檢測有關，特別是關于一種能夠快速變化參考光的光程以有效提升檢測效率的光學裝置及其運作方法。

背景技術(shù)

近年來，隨著光學檢測技術(shù)不斷地演進，光學影像掃描技術(shù)提供一個非侵入式的方法來了解待測物組織的構(gòu)造及組成，由于其快速而且非侵入式的特性使得這類的技術(shù)有相當廣泛的應用，特別是應用于人體功能檢測及醫(yī)療診斷上。

請參照圖1，圖1是繪示傳統(tǒng)的光學干涉檢測裝置的基本架構(gòu)示意圖。如圖1所示，傳統(tǒng)的光學干涉檢測裝置1是通過改變反射鏡14的位置(平行于圖1中的z方向的移動)得到不同的光程差，由此通過麥克森光干涉效應求得待測物16于深度方向(即為圖1中的z方向)上的物質(zhì)特性。亦即反射鏡14是用來反射參考光，并且光學干涉檢測裝置1是通過移動反射鏡14的位置，再與檢測光信號進行干涉比對后，推斷出待測物16于深度方向上的物質(zhì)特性。因此，反射鏡14通常是設置于能夠沿著z方向進行前后移動的掃瞄平臺上，以利快速前后移動。

由上述說明可知，光學干涉檢測裝置1中的反射鏡14與掃瞄平臺的結(jié)合機構(gòu)將會直接影響參考光提供光干涉中的光程距離因子，進而影響到光學干涉檢測裝置1的檢測效率。然而，由于傳統(tǒng)的光學干涉檢測裝置1所采用的反射鏡14與掃瞄平臺的結(jié)合機構(gòu)并無法提供快速變化參考光的光程的功能，故傳統(tǒng)的光學干涉檢測裝置1的檢測效率仍不甚理想。

發(fā)明內(nèi)容

因此，本發(fā)明提出一種光學裝置及其運作方法，以解決上述問題。

根據(jù)本發(fā)明的第一具體實施例為一種光學裝置。于此實施例中，光學裝置包含光源、光耦合模塊、參考光反射模塊及數(shù)據(jù)處理模塊。光源是用以提供入射光。光耦合模塊將入射光分成參考光及檢測光，并分別射向參考光反射模塊及待測物。參考光反射模塊是用以反射參考光并快速改變參考光的光程。光耦合模塊亦分別接收參考光反射模塊反射參考光所產(chǎn)生的第一反射光以及待測物反射該檢測光所產(chǎn)生的第二反射光，并對第一反射光及第二反射光進行干涉以產(chǎn)生光干涉信號。數(shù)據(jù)處理模塊接收光干涉信號并對光干涉信號進行分析，以得到關于待測物的光學檢測結(jié)果。

于一實施例中，參考光反射模塊是采用水平移動機制，參考光反射模塊包含有反射單元及雙向反射光源。

于一實施例中，參考光反射模塊的反射單元可以是階梯狀設計。

于一實施例中，參考光反射模塊是采用旋轉(zhuǎn)機制，參考光反射模塊包含有旋轉(zhuǎn)基座、旋轉(zhuǎn)元件、反射單元及反射光源。

于一實施例中，參考光反射模塊的旋轉(zhuǎn)基座本身可進行水平移動或旋轉(zhuǎn)，共具有多自由度。

于一實施例中，參考光反射模塊可采整體式旋轉(zhuǎn)設計，旋轉(zhuǎn)元件為整體設計，反射單元可設置于等距或不等距的位置。

于一實施例中，參考光反射模塊可采模塊式旋轉(zhuǎn)設計，旋轉(zhuǎn)元件是設置于旋轉(zhuǎn)基座且向外呈放射狀，反射單元可設置于旋轉(zhuǎn)元件的遠端。

于一實施例中，旋轉(zhuǎn)元件的長度是可調(diào)整的，設置于旋轉(zhuǎn)基座的旋轉(zhuǎn)元件的數(shù)目是可增減的。

于一實施例中，參考光反射模塊分別對反射單元的位置進行粗調(diào)節(jié)或細調(diào)節(jié)。

根據(jù)本發(fā)明的第二具體實施例為一種光學裝置運作方法。于此實施例中，該光學裝置包含一光源、一光耦合模塊、一參考光反射模塊及一數(shù)據(jù)處理模塊。該光學裝置運作方法包含下列步驟：(a)該光源提供一入射光；(b)該光耦合模塊將該入射光分成一參考光及一檢測光，并分別射向該參考光反射模塊及一待測物；(c)該參考光反射模塊反射該參考光并快速改變該參考光的光程；(d)該光耦合模塊分別接收該參考光反射模塊反射該參考光所產(chǎn)生的一第一反射光以及該待測物反射該檢測光所產(chǎn)生的一第二反射光，并對該第一反射光及該第二反射光進行干涉以產(chǎn)生一光干涉信號；(e)該數(shù)據(jù)處理模塊接收該光干涉信號并對該光干涉信號進行分析，以得到關于該待測物的一光學檢測結(jié)果。