[發(fā)明專利]描繪設(shè)備以及制造物品的方法無效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310057029.9 | 申請(qǐng)日: | 2013-02-22 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103295863A | 公開(公告)日: | 2013-09-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 大石哲;村木真人;千德孝一;山口渉;稻秀樹 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 佳能株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | H01J37/153 | 分類號(hào): | H01J37/153 |
| 代理公司: | 中國(guó)國(guó)際貿(mào)易促進(jìn)委員會(huì)專利商標(biāo)事務(wù)所 11038 | 代理人: | 歐陽(yáng)帆 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 描繪 設(shè)備 以及 制造 物品 方法 | ||
1.一種利用多個(gè)帶電粒子束在襯底上描繪圖案的描繪設(shè)備,所述描繪設(shè)備包括:
帶電粒子光學(xué)系統(tǒng),被配置為將多個(gè)帶電粒子束發(fā)射到襯底上;以及
控制器,被配置為控制帶電粒子光學(xué)系統(tǒng)的操作,
其中控制器被配置為控制所述操作以便補(bǔ)償基于襯底的表面的起伏的第一數(shù)據(jù)和多個(gè)帶電粒子束中的每一個(gè)帶電粒子束相對(duì)于帶電粒子光學(xué)系統(tǒng)的軸的傾斜的第二數(shù)據(jù)而確定的圖案的畸變。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的描繪設(shè)備,其中控制器被配置為控制所述操作以便補(bǔ)償所述圖案相對(duì)于已經(jīng)在襯底上形成的圖案的畸變。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的描繪設(shè)備,其中控制器被配置為基于根據(jù)第一數(shù)據(jù)和第二數(shù)據(jù)確定的多個(gè)帶電粒子束中的每一個(gè)帶電粒子束在襯底上的位置來改變將被給予帶電粒子光學(xué)系統(tǒng)的描繪數(shù)據(jù)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的描繪設(shè)備,其中
帶電粒子光學(xué)系統(tǒng)包括多個(gè)偏轉(zhuǎn)器,所述多個(gè)偏轉(zhuǎn)器被配置為分別使多個(gè)帶電粒子束偏轉(zhuǎn)以便分別在襯底上掃描多個(gè)帶電粒子束,以及
控制器被配置為基于根據(jù)第一數(shù)據(jù)和第二數(shù)據(jù)確定的多個(gè)帶電粒子束中的每一個(gè)帶電粒子束在襯底上的位置來改變對(duì)于多個(gè)偏轉(zhuǎn)器的命令。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的描繪設(shè)備,還包括被配置為測(cè)量所述起伏的測(cè)量裝置。
6.一種制造物品的方法,所述方法包括如下步驟:
通過使用在權(quán)利要求1到5中的一項(xiàng)中限定的描繪設(shè)備在襯底上執(zhí)行描繪;
使已經(jīng)經(jīng)受描繪的襯底顯影。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于佳能株式會(huì)社,未經(jīng)佳能株式會(huì)社許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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