[發明專利]校正包括阻性輻射熱計陣列的探測器的漂移的方法和設備

有效

• 申請號: 201310055537.3
• 申請日: 2013-02-21
• 公開（公告）號: CN103292908B
• 公開（公告）日: 2017-03-01
• 發明（設計）人: 阿蘭·杜蘭德;米歇爾·維蘭;克里斯托夫·米納西安
• 申請（專利權）人: ULIS股份公司
• 主分類號: G01J5/20
• 分類號: G01J5/20
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司11227
• 代理人: 康建峰,陳煒

1.一種用于校正增益表的方法，在懸置于輻射熱計探測器的基底上方的阻抗性輻射熱計網膜（10）的阻抗性輻射熱計（1011）的響應離差的校正中使用該增益表，所述校正應用于由所述輻射熱計（1011）提供的原始讀取信號，并且增益表的每個增益與網膜的輻射熱計相關聯，其特征在于所述方法包括：

■從對應于基本上溫度均勻的場景的網膜（10）獲取讀取信號（30032、30033、30034、5003）；

■根據如下關系式，根據所獲取的讀取信號計算用于校正增益表的表g（30034、30035、50034、50035）：

g(i,j)=Rac_shut(i,j)Rac_ref(i,j)·TCRref(i,j)TCRshut(i,j)]]>

■以及根據如下關系式校正增益表（30036、50036）：

Gshut(i,j)=g(i,j)·Gref(i,j)N]]>

其中：

■(i,j)表示網膜和所述表中的輻射熱計的坐標；

■G_ref和G_shut分別是校正之前的增益表和被校正的增益表；

■R_{ac_shut}(i,j)是獲取所述讀取信號時坐標為(i,j)的輻射熱計的阻抗值；

■R_{ac_ref}(i，j)是坐標為(i,j)的輻射熱計在先前時間的阻抗值；

■TCR_shut(i，j)是坐標為(i,j)的輻射熱計在獲取所述讀取信號時的溫度變化系數值；

■TCR_ref(i,j)是坐標為(i,j)的輻射熱計在先前時間的溫度變化系數值；以及

■N是用于歸一化增益表G_shut的標量因數。