[發明專利]一種檢測套作大豆苗期藤蔓化的方法

無效

• 申請號: 201310054789.4
• 申請日: 2013-02-20
• 公開（公告）號: CN103141319A
• 公開（公告）日: 2013-06-12
• 發明（設計）人: 劉衛國;楊文鈺;閆艷紅;鄒俊林;佘躍輝;武曉玲;雍太文;王小春;楊峰;劉春燕;宋穎
• 申請（專利權）人: 四川農業大學
• 主分類號: A01G7/00
• 分類號: A01G7/00;G06Q10/04;G06Q50/02
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 趙青朵;馮瓊

1.一種檢測套作大豆苗期藤蔓化的方法，其特征在于，包括如下步驟：

步驟1：于玉米收獲期獲得套作大豆形態指標數據Xr，根據不同大豆材料相同形態指標的所述套作大豆形態指標數據Xr獲得套作大豆形態指標數據平均值Xar；

于玉米收獲期獲得凈作大豆形態指標數據Xs，根據不同大豆材料相同形態指標的所述凈作大豆形態指標數據Xs獲得凈作大豆形態指標數據平均值Xas；

步驟2：獲得套作大豆形態指標的蔓生指數IV；

所述蔓生指數IV＝|1-Xr/Xs|÷|1-Xar/Xas|；

根據相同大豆材料不同形態指標的所述蔓生指數IV獲得套作大豆形態指標的蔓生指數平均值；

步驟3：根據所述蔓生指數IV與所述蔓生指數平均值，得到相關系數r_i；

根據所述蔓生指數IV與所述相關系數r_i，獲得套作大豆的加權蔓生指數；

其中，i為1～n中任意整數，所述n為所述套作大豆形態指標的項數；

為指數權數，所述指數權數為第i個形態指標在所述形態指標中的重要程度；

步驟4：對不同大豆材料的所述套作大豆的加權蔓生指數計算平均值，獲得第一平均值；

對不同大豆材料的所述套作大豆的加權蔓生指數計算標準差，獲得第一標準差；

根據所述第一平均值和所述第一標準差，獲得第一藤蔓化系數和第二藤蔓化系數；

所述第一藤蔓化系數為所述第一平均值與所述第一標準差的和；

所述第二藤蔓化系數為所述第一平均值與所述第一標準差的差；

取所述套作大豆的加權蔓生指數與所述第一藤蔓化系數、所述第二藤蔓化系數比較，所述套作大豆的加權蔓生指數大于所述第一藤蔓化系數的材料為極重度藤蔓化類型，所述套作大豆的加權蔓生指數小于所述第一藤蔓化系數且大于所述第二藤蔓化系數的材料為中間類型，所述套作大豆的加權蔓生指數小于所述第二藤蔓化系數的材料為極輕度藤蔓化類型；

對不同大豆材料的所述中間類型的套作大豆加權蔓生指數計算平均值，獲得第二平均值；

對不同大豆材料的所述中間類型的套作大豆加權蔓生指數計算標準差，獲得第二標準差；

根據所述第二平均值和所述第二標準差，獲得第三藤蔓化系數和第四藤蔓化系數；

所述第三藤蔓化系數為所述第二平均值與所述第二標準差的和；

所述第四藤蔓化系數為所述第二平均值與所述第二標準差的差；

取所述中間類型的套作大豆加權蔓生指數與所述第三藤蔓化系數、所述第四藤蔓化系數比較，所述中間類型的套作大豆加權蔓生指數大于所述第三藤蔓化系數的材料為重度藤蔓化類型，所述中間類型的套作大豆加權蔓生指數小于所述第三藤蔓化系數且大于所述第四藤蔓化系數的材料為中度藤蔓化類型，所述中間類型的套作大豆加權蔓生指數小于所述第四藤蔓化系數的材料為輕度藤蔓化類型。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述形態指標為主莖長、下胚軸長、節間長、莖粗中的兩者或兩者以上的形態指標。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述大豆材料為大豆審定品種、大豆地方品種、種質資源庫中的大豆種質資源、通過雜交獲得的大豆育種材料、通過誘變獲得的大豆育種材料或大豆自然變異株。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述套作大豆的種植方式為：春季播種玉米，夏季播種大豆，玉米采用寬窄行栽培，玉米窄行行距0.45m，玉米寬行行距1.55m，于玉米寬行內種2行大豆，大豆行距0.45m。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述玉米的播種期為4月初。

6.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述大豆的播種期為6月初。

7.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述玉米的穴距為0.45m。

8.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述玉米的種植密度為每穴種2株玉米。

9.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述大豆的穴距為0.45m。

10.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述大豆的種植密度為每穴種3株大豆。