[發明專利]計算機系統中基于圖像處理實現SIM卡缺陷檢測的方法

有效

• 申請號: 201310052985.8
• 申請日: 2013-02-19
• 公開（公告）號: CN103106663A
• 公開（公告）日: 2013-05-15
• 發明（設計）人: 姚晨;洪麗娟;成云飛
• 申請（專利權）人: 公安部第三研究所
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00
• 代理公司: 上海智信專利代理有限公司 31002
• 代理人: 王潔;鄭暄

1.一種計算機系統中基于圖像處理實現SIM卡缺陷檢測的方法，其特征在于，所述的方法包括以下步驟：

（1）系統獲取SIM卡圖像和參考模板；

（2）系統將所述的SIM卡圖像轉換為灰階空間圖像；

（3）系統選取所述的SIM卡圖像中與所述的參考模板尺寸相同的區域為目標模板；

（4）系統對所述的目標模板和參考模板進行二值化處理，獲得二值化處理結果；

（5）系統對所述的目標模板和參考模板進行KL距離計算，獲得KL距離計算結果；

（6）系統根據所述的二值化處理結果和KL距離計算結果確定待檢測的SIM卡區域；

（7）系統將所述的待檢測的SIM卡區域與所述的參考模板進行相同的網格劃分；

（8）系統將所述的待檢測的SIM卡區域的網格與對應的參考模板的網格進行匹配計算；

（9）系統根據所述的匹配計算結果標記所述的待檢測的SIM卡區域內的SIM卡缺陷位置。

2.根據權利要求1所述的計算機系統中基于圖像處理實現SIM卡缺陷檢測的方法，其特征在于，所述的步驟（2）具體包括以下步驟：

（21）系統以所述的SIM卡圖像的左上角的像素點為原點建立直角坐標系；

（22）系統將所述的直角坐標系內的像素點根據以下公式從RGB色彩空間圖像轉換為灰階空間圖像：

Y＝0.299×R+0.587×G+0.114×B。

3.根據權利要求1所述的計算機系統中基于圖像處理實現SIM卡缺陷檢測的方法，其特征在于，所述的二值化處理的二值化閾值采用OSTU方法確定。

4.根據權利要求1所述的計算機系統中基于圖像處理實現SIM卡缺陷檢測的方法，其特征在于，所述的對目標模板和參考模板進行KL距離計算，具體為：

系統利用以下公式計算目標模板和參考模板的KL距離KL(M||T)：

KL(M||T)=Σiln(M(i)T(i))M(i);]]>

其中，i為直方圖中像素灰度值，M(i)為所述的目標模板中像素值為i概率分布，T(i)為所述的參考模板中像素值為i概率分布。

5.根據權利要求1所述的計算機系統中基于圖像處理實現SIM卡缺陷檢測的方法，其特征在于，所述的系統根據二值化處理結果和KL距離計算結果確定待檢測的SIM卡區域，具體為：

系統判斷所述的目標模板二值化處理結果和參考模板二值化處理結果只差是否小于預設的二值化閾值，且所述的KL距離計算結果是否小于預設的KL距離閾值，若均是，則確定目標模板為待檢測的SIM卡區域。

6.根據權利要求5所述的計算機系統中基于圖像處理實現SIM卡缺陷檢測的方法，其特征在于，所述的預設的二值化閾值為5000，所述的KL距離閾值為0.4。

7.根據權利要求1所述的計算機系統中基于圖像處理實現SIM卡缺陷檢測的方法，其特征在于，所述的步驟（8）具體包括以下步驟：

（81）系統計算所述的待檢測的SIM卡區域的網格與對應的參考模板的網格間的平均梯度值

（82）系統判斷所述的平均梯度值是否大于預設的閾值，若是，則進入步驟（83）；若否，則判斷所述的待檢測的SIM卡區域的網格與對應的參考模板的網格匹配；

（83）系統對所述的待檢測的SIM卡區域的網格與對應的參考模板的網格進行匹配計算。