[發明專利]用于寬動態范圍中子通量監測的動態標定系統及方法有效
| 申請號: | 201310052304.8 | 申請日: | 2013-02-18 |
| 公開(公告)號: | CN103995279B | 公開(公告)日: | 2017-03-22 |
| 發明(設計)人: | 陰澤杰;李世平;徐修峰;楊青巍;楊進蔚 | 申請(專利權)人: | 中國科學技術大學 |
| 主分類號: | G01T3/00 | 分類號: | G01T3/00 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司11021 | 代理人: | 宋焰琴 |
| 地址: | 230026 安*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 動態 范圍 中子通量 監測 標定 系統 方法 | ||
1.一種用于寬動態范圍中子通量監測的線性擬合動態標定系統,其特征在于,該系統包括:探測器,計數模塊,積分模塊,動態標定模塊,積分值處理模塊和模式選擇模塊,其中:?
所述探測器用于探測中子并輸出中子脈沖信號;?
所述計數模塊與所述探測器連接,用于根據所述中子脈沖信號得到并輸出一組通量值,記為計數通量值,并對脈沖波形進行分析,統計脈沖發生堆積的概率;?
所述積分模塊與所述探測器連接,用于對脈沖波形進行積分得到一組積分值;?
所述動態標定模塊與所述計數模塊和所述積分模塊連接,用于根據所述計數通量值、堆積概率和積分值,不斷的判斷所述計數通量值和所述堆積概率是否滿足一預定條件;若是,所述動態標定模塊收集計數通量值和相應的積分值,并從中挑選出計數通量值相差較大的k個數值對進行緩存,并將利用這k個數值對進行線性擬合得到的積分系數提供給積分值處理模塊,同時清空緩存以等待下一次的更新;?
所述積分值處理模塊與所述動態標定模塊連接,用于利用所得到的積分系數對積分值進行反解得到積分通量值;?
所述模式選擇模塊與所述計數模塊和所述積分值處理模塊連接,用于通過判斷計數通量值和堆積概率的大小從而在計數通量值和積分通量值中選擇一個作為最終的通量值輸出。?
2.根據權利要求1所述的系統,其特征在于,所述計數模塊通過脈沖計數的方式根據所述中子脈沖信號得到所述計數通量值。?
3.根據權利要求1所述的系統,其特征在于,所述預定條件為:①所述計數通量值處于計數模式適用的通量范圍與積分模式適用的通量范圍的重合區域內;以及②堆積概率低于所設置的閾值以保證計數通量值能夠準確表征入射中子通量。?
4.根據權利要求1所述的系統,其特征在于,當所述預定條件從滿足變成不滿足時,所述動態標定模塊對緩存中已經存在的k個數值對進行?線性擬合。?
5.根據權利要求1所述的系統,其特征在于,如果堆積概率較大或者計數通量值超過閾值,則所述模式選擇模塊選擇積分通量值作為最終的通量值輸出。?
6.一種用于寬動態范圍中子通量監測的線性擬合動態標定方法,其特征在于,所述方法包括以下步驟:?
步驟1,探測器探測中子并將輸出的中子脈沖信號同時送給計數模塊和積分模塊;?
步驟2,計數模塊根據所述中子脈沖信號輸出一組通量值,記為計數通量值,同時所述計數模塊還對所述中子脈沖信號波形進行分析,統計脈沖發生堆積的概率,并將得到的計數通量值和堆積概率發送給動態標定模塊和模式選擇模塊;?
步驟3,積分模塊通過對所述中子脈沖信號波形進行積分得到一組積分值,并將所述積分值發送給動態標定模塊;?
步驟4,所述動態標定模塊不斷的判斷所述計數通量值和所述堆積概率是否滿足一預定條件,若是,所述動態標定模塊收集計數通量值和相應的積分值,并從中挑選出計數通量值相差較大的k個數值對進行緩存,并將利用這k個數值對進行線性擬合得到的積分系數提供給積分值處理模塊,同時清空緩存以等待下一次的更新;?
步驟5,所述積分值處理模塊利用所得到的積分系數對相應的積分值進行反解得到積分通量值;?
步驟6,模式選擇模塊通過判斷計數通量值和堆積概率的大小從而在計數通量值和積分通量值中選擇一個作為最終的通量值輸出。?
7.根據權利要求6所述的方法,其特征在于,所述步驟2中,所述計數模塊通過脈沖計數的方式根據所述中子脈沖信號得到所述計數通量值。?
8.根據權利要求6所述的方法,其特征在于,所述預定條件為:①所述計數通量值處于計數模式適用的通量范圍與積分模式適用的通量范圍的重合區域內;以及②堆積概率低于所設置的閾值以保證計數通量值能夠準確表征入射中子通量。?
9.根據權利要求6所述的方法,其特征在于,所述步驟4中,當所述預定條件從滿足變成不滿足時,所述動態標定模塊對緩存中已經存在的k個數值對進行線性擬合。?
10.根據權利要求6所述的方法,其特征在于,所述步驟6中,如果堆積概率較大或者計數通量值超過閾值,則選擇積分通量值作為最終的通量值輸出。?
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國科學技術大學,未經中國科學技術大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310052304.8/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





