[發明專利]切倫科夫熒光成像中γ射線的去除方法有效
| 申請號: | 201310051432.0 | 申請日: | 2013-01-26 |
| 公開(公告)號: | CN103177425A | 公開(公告)日: | 2013-06-26 |
| 發明(設計)人: | 梁繼民;劉沐寒;徐顯輝;屈曉超;陳雪利;田捷 | 申請(專利權)人: | 西安電子科技大學 |
| 主分類號: | G06T5/00 | 分類號: | G06T5/00;A61B6/00 |
| 代理公司: | 陜西電子工業專利中心 61205 | 代理人: | 田文英;王品華 |
| 地址: | 710071*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 切倫科夫 熒光 成像 射線 去除 方法 | ||
1.切倫科夫熒光成像中γ射線的去除方法,包括如下步驟:
(1)獲取圖像數據
1a)在避光條件下用CCD相機捕獲切倫科夫熒光圖像;
1b)在避光條件下用CCD相機捕獲背景噪聲圖像;
(2)圖像預處理
將采集的熒光圖像減去背景噪聲圖像,得到被干擾圖像;
(3)根據如下公式計算圖像掩膜的寬度:
w=2t+1
其中,w表示圖像掩膜的寬度大小,t表示迭代的次數;
(4)獲取局部方差圖像
4a)使用平滑線性濾波器,對被干擾圖像進行平滑線性濾波,獲得圖像中每個像素的局部均值;
4b)利用圖像局部方差公式,計算被干擾圖像中每個像素的局部方差,獲取局部方差圖像;
(5)確定被干擾像素
5a)采用最大類間方差法處理局部方差圖像,獲取判定閾值;
5b)將局部方差圖像中方差大于判定閾值的像素標記為被干擾像素;
(6)構造信號判定矩陣
利用下面公式構造信號判定矩陣:
其中,S(i,j)表示構造的信號判定矩陣,(i,j)表示信號判定矩陣第i行第j列對應的坐標值,D(i,j)表示被干擾圖像在第i行第j列對應坐標的像素值,C表示被干擾像素的集合;
(7)修復被干擾像素,獲取初步修復圖像
利用如下公式修復被干擾圖像中被γ射線干擾的像素,獲取初步修復圖像:
其中,p(i,j)表示修復后的被干擾像素,(i,j)表示修復后的被干擾像素對應的坐標值,(m,n)表示以坐標(i,j)為中心的圖像掩膜范圍內的圖像像素對應的坐標值,A表示以坐標(i,j)為中心的圖像掩膜范圍內的圖像像素的集合,∑·表示求和運算符,S(m,n)表示信號判定矩陣第m行第n列對應的值,D(m,n)表示被干擾圖像第m行第n列對應坐標的像素值;
(8)判斷初步修復圖像是否滿足處理要求
人工觀察判斷初步修復圖像中是否存在被干擾的像素,如果是,將初步修復圖像作為被干擾圖像,返回步驟(3);否則,執行下一步驟;
(9)對初步修復圖像抑噪
采用非截斷小波抑噪公式,對初步修復圖像進行抑噪,得到去除干擾圖像,去除γ射線的過程結束。
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