[發明專利]用于檢測和校準時鐘機構的轉輪位置的裝置

有效

• 申請號: 201310049331.X
• 申請日: 2013-02-07
• 公開（公告）號: CN103246198A
• 公開（公告）日: 2013-08-14
• 發明（設計）人: J-J·博恩;P·托爾托拉;C·尼古拉斯;P·拉戈熱特
• 申請（專利權）人: 斯沃奇集團研究和開發有限公司
• 主分類號: G04D7/04
• 分類號: G04D7/04;G04C9/08
• 代理公司: 北京市中咨律師事務所 11247
• 代理人: 楊曉光;于靜

1.一種裝置，用于檢測和校準電子模擬手表的時鐘機構（1）的至少一個第一轉輪（16）的位置，其中該第一轉輪（16）在一個平面（P1）中延伸，所述檢測和校準裝置（30）包括至少一個發出光束（34）的光源（32）和至少一個光檢測系統（36），并且該檢測和校準裝置的特征在于第一光反射元件（40）從所述時鐘機構（1）的所述第一轉輪（16）的上或下表面中的一個伸出，其中所述光源（32）和所述光檢測系統（36）布置為使得在所述時鐘機構（1）的所述第一轉輪（16）的確定位置處，由所述光源（32）發出的所述光束（34）由所述第一反射元件（40）以所述光檢測系統（36）的方向反射。

2.根據權利要求1所述的檢測和校準裝置，其特征在于所述光源（32）在與所述時鐘機構（1）的所述第一轉輪（16）在其中延伸的平面（P1）相平行的方向上發出光束（34）。

3.根據權利要求1所述的檢測和校準裝置，其特征在于所述第一反射元件（40）以翼片的形式提供。

4.根據權利要求2所述的檢測和校準裝置，其特征在于所述第一反射元件（40）以翼片的形式提供。

5.根據權利要求3所述的檢測和校準裝置，其特征在于所述翼片相對于所述時鐘機構（1）的所述第一轉輪（16）在其中延伸的平面（P1）以90°彎曲。

6.根據權利要求3所述的檢測和校準裝置，其特征在于所述第一轉輪（16）由金屬制成，并且所述翼片由所述第一轉輪（16）的圓盤切割而成。

7.根據權利要求5所述的檢測和校準裝置，其特征在于所述第一轉輪（16）由金屬制成，并且所述翼片由所述第一轉輪（16）的圓盤切割而成。

8.根據權利要求3所述的檢測和校準裝置，其特征在于所述第一轉輪（16）由塑料材料制成，并且所述翼片在具有所述第一轉輪（16）的單個零件中。

9.根據權利要求5所述的檢測和校準裝置，其特征在于所述第一轉輪（16）由塑料材料制成，并且所述翼片在具有所述第一轉輪（16）的單個零件中。

10.根據權利要求8所述的檢測和校準裝置，其特征在于將所述翼片鍍層以提高其對入射光束（34）的反射率。

11.根據權利要求9所述的檢測和校準裝置，其特征在于將所述翼片鍍層以提高其對入射光束（34）的反射率。

12.根據權利要求1所述的檢測和校準裝置，其特征在于所述光源（32）是發光二級管（32b）。

13.根據權利要求12所述的檢測和校準裝置，其特征在于所述檢測和校準裝置（30）包括光學裝置（44b），其布置為使由所述發光二級管（32b）發出的光束（34b）以所述第一反射元件（40）的方向會聚并且將由所述第一反射元件（40）反射的光聚焦到所述光檢測系統（36）上。

14.根據權利要求1所述的檢測和校準裝置，其特征在于所述光源（32）是垂直腔表面發光激光器或VCSEL類型激光二極管（32a）。

15.根據權利要求14所述的檢測和校準裝置，其特征在于所述激光二極管（32a）以與所述第一轉輪（16）在其中延伸的平面（P1）相垂直的方向發出光束（34a），并且所述檢測和校準裝置（30）包括光學裝置（44a），其布置為使所述光束（34a）以與所述時鐘機構（1）的所述第一轉輪（16）在其中延伸的平面（P1）相平行的方向偏轉，并以所述第一反射元件（40）的方向引導光束（34a）。

16.根據權利要求1所述的檢測和校準裝置，在其中所述時鐘機構（1）的第二轉輪（4）在所述第一轉輪（16）上同軸安裝，其中該第二轉輪（4）以與所述第一轉輪（16）在其中延伸的平面相平行的平面中延伸，其特征在于所述第二轉輪（4）包括第二光反射元件（42），其從所述第二轉輪（4）的上或下表面中的一個伸出，并且在所述第二轉輪（4）的確定位置處，所述第二反射元件（40）將由所述光源（32）發出的光束（34）在所述光檢測系統（36）的方向上反射。

17.根據權利要求16所述的檢測和校準裝置，其特征在于所述時鐘機構（1）的所述第一轉輪（16）具有時針，所述第二轉輪（4）具有分針，并且所述時針和所述分針由同一電動機或由兩個分離的電動機（14，2）驅動。

18.根據權利要求1所述的檢測和校準裝置，其特征在于所述光檢測系統（36）是傳感器陣列或光電二極管。