[發明專利]一種具有交錯梳齒的靜電驅動結構的制備方法有效
| 申請號: | 201310048869.9 | 申請日: | 2013-02-07 |
| 公開(公告)號: | CN103145091A | 公開(公告)日: | 2013-06-12 |
| 發明(設計)人: | 秦明 | 申請(專利權)人: | 東南大學 |
| 主分類號: | B81C1/00 | 分類號: | B81C1/00;G02B6/26 |
| 代理公司: | 南京蘇高專利商標事務所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 柏尚春 |
| 地址: | 214135 *** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 具有 交錯 梳齒 靜電 驅動 結構 制備 方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種靜電驅動結構的制備方法,具體來說,涉及一種具有交錯梳齒的靜電驅動結構的制備方法。
背景技術
可調光衰減器(VOA)是光網絡中的一種重要的光纖無源器件,是組成光放大器的關鍵部件,在光纖通信系統中起到功率平衡的關鍵作用。MEMS可調光衰減器性能可靠,結構緊湊,造價低廉,易于批量生產,具有廣泛的發展前景。目前的MEMS光衰減器主要有微鏡結構,通過靜電驅動實現微鏡的上下偏轉。驅動結構有平板型和梳齒型,平板型難以實現線性控制,梳齒則需要上下交疊,因此加工通常采用硅片正反面加工實現,工藝復雜。
發明內容
技術問題:本發明所要解決的技術問題是:提供一種具有交錯梳齒的靜電驅動結構的制備方法,該制備方法僅在硅片正面加工,且固定梳齒和活動梳齒一次光刻刻蝕成型,工藝簡單易操作,可靠性高,且加工精度高。
技術方案:為解決上述技術問題,本發明采用的技術方案是:
一種具有交錯梳齒的靜電驅動結構的制備方法,其特征在于,該制備方法包括以下步驟:
步驟10)選取硅片:選取(100)晶向高摻雜襯底和硅膜的SOI硅片作為起始硅片;SOI硅片從下向上依次為襯底、絕緣層和硅膜;
步驟20)采用熱氧化方法在SOI硅片頂面生長一層氧化絕緣層,然后采用旋涂工藝,在氧化絕緣層頂面覆蓋一層光刻膠層,接著采用光刻工藝,在光刻膠層上刻蝕孔,當刻蝕到氧化絕緣層頂面時,用氫氟酸溶液腐蝕掉氧化絕緣層,在硅膜上繼續刻蝕孔,當刻蝕到絕緣層頂面時,用氫氟酸溶液腐蝕掉絕緣層,從而形成第一孔,該第一孔貫穿光刻膠層、氧化絕緣層、硅膜和絕緣層;隨后采用八氟化四碳氣體干法刻蝕工藝,在第一孔的側壁和底面上淀積保護層,并用離子轟擊去掉位于第一孔底面上的保護層;
步驟30)采用干法感應耦合等離子體工藝,沿著第一孔繼續向下刻蝕孔,在襯底中形成第二孔;
步驟40)采用各向同性等離子干法刻蝕工藝,刻蝕位于第一孔下方的襯底,使第二孔的孔徑大于第一孔的孔徑;
步驟50)采用氫氟酸溶液,腐蝕掉位于硅膜上方的氧化絕緣層和位于第一孔側壁的保護層,然后采用外延工藝,對整個表面進行硅外延生長,填充第一孔,使第二孔封閉;
步驟60)采用感應耦合等離子體工藝,利用光刻板,對硅膜進行梳齒光刻,一直刻到襯底的空腔的底部,形成活動梳齒、固定梳齒、活動電極區、支桿和扭轉桿,支桿通過扭轉桿與活動電極區固定連接,活動梳齒固定連接在支桿的側面,活動梳齒與固定梳齒交錯布置。
有益效果:與現有技術相比,本發明的制備方法簡單易操作,可靠性高,且加工精度高。本發明的制備方法采用半導體工藝,結合深硅刻蝕加工實現,工藝可靠性高。該制備方法采用SOI晶圓單面加工實現,不需要通過背面加工和硅硅鍵合,可有效保證加工成品率,適合批量化產品的推廣應用。該制備方法僅在硅片上表面加工,且固定梳齒和活動梳齒不需要套刻對準,結構穩定性好。整個工藝簡單,可靠性高。
附圖說明
圖1是本發明制備方法中步驟20)完成后的結構示意圖。
圖2是本發明制備方法中步驟30)完成后的結構示意圖。
圖3是本發明制備方法中步驟40)完成后的結構示意圖。
圖4是本發明制備方法中步驟50)完成后的結構示意圖。
圖5是本發明制備方法中步驟60)完成后的結構示意圖。
圖中有:襯底1、絕緣層2、硅膜3、活動梳齒4、固定梳齒5、光刻膠層6、氧化絕緣層7、第一孔8、第二孔9、保護層10、活動電極區11。
具體實施方式
下面結合附圖,對本發明的技術方案作進一步詳細的說明。
如圖1至圖5所示,本發明具有交錯梳齒的靜電驅動結構的制備方法,包括以下步驟:
步驟10)選取硅片:選取(100)晶向高摻雜襯底1和硅膜3的SOI硅片作為起始硅片。SOI硅片從下向上依次為襯底1、絕緣層2和硅膜3。
步驟20)如圖1所示,采用熱氧化方法在SOI硅片頂面生長一層氧化絕緣層7,然后采用旋涂工藝,在氧化絕緣層7頂面覆蓋一層光刻膠層6,接著采用光刻工藝,在光刻膠層6上刻蝕孔,當刻蝕到氧化絕緣層7頂面時,用氫氟酸溶液腐蝕掉氧化絕緣層7,在硅膜3上繼續刻蝕孔,當刻蝕到絕緣層2頂面時,用氫氟酸溶液腐蝕掉絕緣層2,從而形成第一孔8,該第一孔8貫穿光刻膠層6、氧化絕緣層7、硅膜3和絕緣層2;隨后采用八氟化四碳氣體干法刻蝕工藝,在第一孔8的側壁和底面上淀積保護層10,并用離子轟擊去掉位于第一孔8底面上的保護層10。
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