[發(fā)明專利]探針間隔元件

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310048465.X
• 申請日: 2013-02-06
• 公開（公告）號: CN103852136B
• 公開（公告）日: 2019-02-19
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 哈坎·弗雷德里克松
• 申請（專利權(quán)）人: 羅斯蒙特儲罐雷達(dá)股份公司
• 主分類號: G01F23/284
• 分類號: G01F23/284
• 代理公司: 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 朱勝;李春暉

1.一種導(dǎo)波雷達(dá)料位計系統(tǒng)，所述導(dǎo)波雷達(dá)料位計系統(tǒng)用于確定在容器中所容納的產(chǎn)品的填充料位，所述料位計系統(tǒng)包括：

收發(fā)器，所述收發(fā)器用于發(fā)射電磁傳輸信號以及接收在所述產(chǎn)品的表面處所反射的反射電磁信號；

探針，所述探針連接至所述收發(fā)器，被布置為豎直地延伸到所述容器中以及被配置為將所述電磁傳輸信號引導(dǎo)到所述表面和將所述反射電磁信號引導(dǎo)回所述收發(fā)器；

處理電路，所述處理電路連接至所述收發(fā)器并且被配置為基于所接收的反射電磁信號來確定所述填充料位；以及

多個間隔元件，所述多個間隔元件被布置在所述探針上，所述間隔元件中的每個包括：

空心殼體結(jié)構(gòu)，所述空心殼體結(jié)構(gòu)具有限定橢球形空間的橢球形的形狀；

在所述殼體的第一位置處的第一殼體開口；

在第二位置處的第二殼體開口，以使得穿過所述第一殼體開口和所述第二殼體開口的通道限定穿過所述球形空間的通道，其中所述探針延伸穿過所述通道；以及

多個流動開口，所述多個流動開口允許在所述殼體的外部與內(nèi)部之間的流體流動。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的導(dǎo)波雷達(dá)料位計系統(tǒng)，其中所述間隔元件中的每個進(jìn)一步包括：

在所述殼體的第三位置處的第三殼體開口；

在所述殼體的第四位置處的第四殼體開口，以使得穿過所述第三殼體開口和所述第四殼體開口的通道限定穿過所述球形空間的第二通道，其中所述第三殼體開口和所述第四殼體開口具有不同于所述第一殼體開口和所述第二殼體開口的直徑。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的導(dǎo)波雷達(dá)料位計系統(tǒng)，其中所述空心殼體結(jié)構(gòu)具有限定球形空間的球形的形狀。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的導(dǎo)波雷達(dá)料位計系統(tǒng)，其中所述第一殼體開口被布置為與所述第二殼體開口對跖，以使得穿過所述球形空間的所述通道限定所述球形空間的中心軸。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的導(dǎo)波雷達(dá)料位計系統(tǒng)，其中彼此對跖定位的殼體開口具有相同的直徑。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的導(dǎo)波雷達(dá)料位計系統(tǒng)，其中所述殼體朝著所述殼體開口中的每個殼體開口逐漸縮減厚度，以使得所述殼體的、鄰近所述殼體開口中的每個殼體開口的部分比遠(yuǎn)離所述殼體開口的部分更薄。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的導(dǎo)波雷達(dá)料位計系統(tǒng)，其中所述探針的至少一部分被布置在導(dǎo)管中。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的導(dǎo)波雷達(dá)料位計系統(tǒng)，其中所述多個間隔元件被布置在所述探針的、被布置在所述導(dǎo)管中的所述部分上。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的導(dǎo)波雷達(dá)料位計系統(tǒng)，其中所述導(dǎo)管的至少一部分是彎曲的。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的導(dǎo)波雷達(dá)料位計系統(tǒng)，其中至少所述探針的、被布置在所述導(dǎo)管的彎曲部分中的部分是柔性的。

11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的導(dǎo)波雷達(dá)料位計系統(tǒng)，進(jìn)一步包括至少一個鎖定元件，所述鎖定元件阻止所述多個間隔元件關(guān)于所述探針的延長線的縱向運動。

12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的導(dǎo)波雷達(dá)料位計系統(tǒng)，其中所述至少一個鎖定元件被附接至所述探針。

13.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的導(dǎo)波雷達(dá)料位計系統(tǒng)，其中所述間隔元件由非導(dǎo)電材料制成。

14.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的導(dǎo)波雷達(dá)料位計系統(tǒng)，其中所述間隔元件的表面設(shè)置有防污涂層。

15.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的導(dǎo)波雷達(dá)料位計系統(tǒng)，其中包括所述間隔元件的所述探針的一部分被布置在傾斜的表面上。