[發明專利]TDLAS溫度校準系統有效
| 申請號: | 201310048162.8 | 申請日: | 2013-02-06 |
| 公開(公告)號: | CN103175634A | 公開(公告)日: | 2013-06-26 |
| 發明(設計)人: | 賈軍偉;張書鋒;金光遠;柴昊;楊力;劉展;張明志 | 申請(專利權)人: | 北京東方計量測試研究所 |
| 主分類號: | G01K15/00 | 分類號: | G01K15/00 |
| 代理公司: | 北京海虹嘉誠知識產權代理有限公司 11129 | 代理人: | 吳小燦 |
| 地址: | 100086 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | tdlas 溫度 校準 系統 | ||
1.TDLAS溫度校準系統,其特征在于,包括標準傳感器溫度測量系統和被校準的在真空環境下測量氣體溫度的TDLAS溫度測量系統,所述TDLAS溫度測量系統中的光學系統位于恒溫槽中,所述光學系統的殼體與所述恒溫槽周壁之間具有恒溫液,所述標準傳感器溫度測量系統中的標準傳感器位于所述恒溫液內。
2.根據權利要求1所述的TDLAS溫度校準系統,其特征在于,所述標準傳感器采用一等標準鉑電阻溫度計,所述一等標準鉑電阻溫度計連接溫度顯示儀表。
3.根據權利要求1所述的TDLAS溫度校準系統,其特征在于,所述光學系統包括光學透鏡組,所述光學透鏡組的上端連接激光系統,所述光學透鏡組的下端通過接收光纖連接數據處理系統。
4.根據權利要求1所述的TDLAS溫度校準系統,其特征在于,所述光學系統附設有接收光纖通道。
5.根據權利要求1所述的TDLAS溫度校準系統,其特征在于,所述光學系統通過抽氣管路連接真空抽氣系統。
6.根據權利要求1所述的TDLAS溫度校準系統,其特征在于,所述光學系統通過供氣管路連接待測氣體供氣系統。
7.根據權利要求6所述的TDLAS溫度校準系統,其特征在于,所述待測氣體采用C2H2氣體。
8.根據權利要求6所述的TDLAS溫度校準系統,其特征在于,所述待測氣體供氣系統包括混氣罐,所述混氣罐通過第一截止閥管路連接氣體罐,并通過第二截止閥管路連接機械泵。
9.根據權利要求3所述的TDLAS溫度校準系統,其特征在于,所述數據處理系統包括與所述接收光纖連接的鎖相放大器,所述鎖相放大器連接數據采集系統,所述數據采集系統連接數據分析系統,所述數據分析系統連接數據顯示系統。
10.根據權利要求9所述的TDLAS溫度校準系統,其特征在于,所述激光系統包括激光器,所述激光器連接激光控制單元,所述激光控制單元連接信號調制單元,所述信號調制單元連接信號發生器,所述信號調制單元連接所述鎖相放大器。
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