[發明專利]一種基于雙目異質機器視覺的檢測系統及其檢測方法無效
| 申請號: | 201310047553.8 | 申請日: | 2013-02-01 |
| 公開(公告)號: | CN103134757A | 公開(公告)日: | 2013-06-05 |
| 發明(設計)人: | 戴華平;錢嘉偉;黃滿金 | 申請(專利權)人: | 浙江大學 |
| 主分類號: | G01N21/25 | 分類號: | G01N21/25;G01B11/00;G06T7/00 |
| 代理公司: | 杭州求是專利事務所有限公司 33200 | 代理人: | 葉志堅 |
| 地址: | 310027 浙*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 基于 雙目 機器 視覺 檢測 系統 及其 方法 | ||
1.一種基于雙目異質機器視覺的檢測系統,包括采集模塊和處理模塊,其特征在于,所述采集模塊包括:
圖像采集單元,用于對待測物體進行圖像采集;
圖線采集單元,用于對待測物體進行圖線采集;
所述處理模塊包括:
濾波單元,用于接收所述圖像采集單元采集到的圖像并進行濾波;
邊緣檢測單元,用于接收所述濾波單元輸出的濾波圖像,對濾波后的濾波圖像進行邊緣的粗提取,得到待測物體的邊緣梯度圖像,對邊緣梯度圖像中各邊緣像素進行亞像素邊緣檢測,得到各邊緣像素的亞像素坐標;
幾何參數單元,用于接收邊緣檢測單元輸出的邊緣像素的亞像素坐標,計算出待測物體的幾何參數,并生成AutoCAD矢量圖;
合成單元,用于接收所述圖線采集單元采集到的待測物體的圖線并合成特征圖像立方體;
特征提取單元,用于從所述特征圖像立方體中提取出待測物體各成分的光譜信息,進而得到待測物體的物性參數;
評測單元,用于接收所述幾何參數單元和所述合成單元的輸出,評價出待測物體的品質。
2.根據權利要求1所述的基于雙目異質機器視覺的檢測系統,其特征在于:所述的處理模塊采用千兆以太網接口分別與所述的圖像采集單元和所述的圖線采集單元實現連接。
3.根據權利要求1或2所述的基于雙目異質機器視覺的檢測系統,其特征在于:所述的圖像采集單元為工業CCD相機;所述的圖線采集單元為高光譜成像儀;所述的處理模塊為工業控制計算機。
4.根據權利要求1所述的基于雙目異質機器視覺的檢測系統,其特征在于:所述檢測系統還包括用于確定待測物體位置并觸發所述采集模塊進行采集的傳感器,所述傳感器為光電傳感器。
5.根據權利要求1所述的基于雙目異質機器視覺的檢測系統,其特征在于:所述檢測系統還包括用于照射待測物體的光源,所述光源為鹵鎢燈。
6.一種基于雙目異質機器視覺的檢測方法,基于雙目異質機器視覺的檢測系統對待測物體進行檢測,其特征在于,所述基于雙目異質機器視覺的檢測系統的采集模塊包括圖像采集單元和圖線采集單元,所述檢測方法包括如下步驟:
(1)將圖像采集單元和圖線采集單元組成雙目異質機器視覺,對待測物體進行圖像采集和圖線采集;
(2)將采集到的圖像進行亞像素邊緣檢測,獲取待測物體邊緣的亞像素坐標,根據待測物體邊緣的亞像素坐標,獲取待測物體的幾何參數,并生成待測物體邊緣的AutoCAD矢量圖;
(3)將采集到的圖線合成特征圖像立方體,從該立方體中提取出待測物體各成分的光譜信息,獲取待測物體的物性參數;
(4)將待測物體的幾何參數和物性參數與標準模板的幾何參數和物性參數進行比對,評價出待測物體的品質。
7.根據權利要求6所述的基于雙目異質機器視覺的檢測方法,其特征在于:所述的步驟(1)還包括步驟:
對圖像采集單元進行標定,得到像素當量系數。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于浙江大學,未經浙江大學許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310047553.8/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





