[發明專利]基于非局部均值的SUSAN邊緣檢測方法及系統

有效

• 申請號: 201310047546.8
• 申請日: 2013-02-06
• 公開（公告）號: CN103150725A
• 公開（公告）日: 2013-06-12
• 發明（設計）人: 張旭明;詹軼;吳意;金嬌英;王瑞;丁明躍;熊有倫;尹周平;王瑜輝
• 申請（專利權）人: 華中科技大學
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00
• 代理公司: 華中科技大學專利中心 42201
• 代理人: 李智

技術領域

本發明屬于圖像邊緣檢測領域，具體涉及一種基于非局部均值的蘇珊（SUSAN）邊緣檢測方法及系統。

背景技術

邊緣檢測是是模式識別、圖像分割及圖像場景分析的基礎，被廣泛應用于生物醫學工程和工業自動化等領域。然而，實際應用中的圖像在獲取和傳輸過程中不可避免會受到噪聲的污染，噪聲的引入對精確邊緣檢測產生了極大的挑戰，研究具有優異抗噪性能的邊緣檢測方法，對促進其實際應用具有重要理論價值和實際意義。

邊緣檢測作為圖像處理和計算機視覺中的一個熱點問題，已得到了深入研究。邊緣檢測的目的是標識數字圖像中亮度變化明顯的點。目前，研究者提出了多種邊緣檢測方法，如索貝爾（Sobel）檢測方法、Prewitt檢測方法、坎尼（Canny）檢測方法、基于伽伯（Gabor）的檢測方法及SUSAN邊緣檢測方法等。其中，SUSAN邊緣檢測方法較上述其它方法具有更好的邊緣檢測能力，因此受到廣泛關注。然而，傳統SUSAN邊緣檢測方法利用單個像素灰度差來刻畫像素差異，易受到噪聲干擾的影響，大大影響了其抗噪性能。為提高SUSAN邊緣檢測方法的抗噪能力，一些改進方法被提出，如雙模板SUSAN方法和自適應SUSAN邊緣檢測方法(ASED)等，這些方法在圖像中噪聲污染程度較大時難以取得滿意的檢測結果。為克服上述不足，研究者提出了改進的SUSAN檢測方法(ISED)，它利用優化約束條件方程來計算SUSAN響應，該方法能較好地抑制圖像中椒鹽噪聲的不利影響，但對噪聲尤其是高斯噪聲的抑制能力不足。

發明內容

本發明的目的在于提供一種基于非局部均值的SUSAN邊緣檢測方法，該方法對噪聲具有較優的抑制能力，在噪聲污染圖像中可獲得精度較高的邊緣檢測結果。

本發明的另一目的在于提供一種基于非局部均值的SUSAN邊緣檢測系統，該系統對噪聲具有較優的抑制能力，在噪聲污染圖像中可獲得精度較高的邊緣檢測結果。

為實現上述發明目的，本發明提供的一種SUSAN邊緣檢測方法，具體包括下述步驟：

第1步計算待檢測圖像I的初始SUSAN邊緣響應圖像，其過程為：

（1.1）對于待檢測圖像I中的每一個像素(x,y)，提取以其為中心的圓形模板Ψ；

（1.2）利用式I分別計算各圓形模板Ψ中的每個像素(p,q)與所在圓形模板的中心像素(x,y)之間的像素比較差異c(x,y,p,q)：

c(x,y,p,q)=exp(-(Φ*||IP(p,q)-IP(x,y)||22T2)3)]]>????式I